您的位置:首页 > 产品展厅 > 电子元器件 > 集成电路(IC) > 手机IC > 手机芯片UFS2.0 2.1测试座合金探针老化座 UFS153/169 翻盖式插座
本产品为定制品,可提供芯片参数图纸,一件起定!
用于BGA153/169的UFS芯片测试、老化
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用于BGA153/169的UFS芯片测试、老化
FLASH闪存IC测试座BGA152/132转DIP48 BGA152/132烧录座
BGA152探针翻盖转DIP48测试座
产品简介
产品用途:BGA152/132探针测试座,对BGA152/BGA132的芯片进行测试
适用封装:BGA152/BGA
032-2PIN 晶振探针老化座5.0*3.2 贴片 晶振探针测试座
A、产品用途:老化座、测试座,对5032(5.0*3.2)的IC芯片进行高低温老化测试
B、适用封装: 5032(5.0*3.2)-2PIN晶振探针老化座
C、采用双触点技
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