BGA152探针翻盖转DIP48测试座产品简介
产品用途:BGA152/132探针测试座，对BGA152/BGA132的芯片进行测试
适用封装:BGA152/BGA132 引脚间距1.0mm
测试座:BGA152/132-1.0翻盖探针测试座
特点：采用进口探针，电流能过3A、寿命达15万次以上、测试传输速度快。翻盖换取芯片方便，操作简单
规格尺寸
型号:BGA152/132-1.0
引脚间距(mm):1.0
适配芯片尺寸:12*18mm (BGA132) , 14*18mm (BGA152)
（可更换限位框，购买前请联系客服或留言，谢谢。）
产品展示
BGA152探针翻盖转DIP48测试座产品简介
产品用途:BGA152/132探针测试座，对BGA152/BGA132的芯片进行测试
适用封装:BGA152/BGA132 引脚间距1.0mm
测试座:BGA152/132-1.0翻盖探针测试座
特点：采用进口探针，电流能过3A、寿命达15万次以上、测试传输速度快。翻盖换取芯片方便，操作简单
规格尺寸
型号:BGA152/132-1.0
引脚间距(mm):1.0
适配芯片尺寸:12*18mm (BGA132) , 14*18mm (BGA152)
BGA152探针翻盖转DIP48测试座产品简介
产品用途:BGA152/132探针测试座，对BGA152/BGA132的芯片进行测试
适用封装:BGA152/BGA132 引脚间距1.0mm
测试座:BGA152/132-1.0翻盖探针测试座
特点：采用进口探针，电流能过3A、寿命达15万次以上、测试传输速度快。翻盖换取芯片方便，操作简单
规格尺寸
型号:BGA152/132-1.0
引脚间距(mm):1.0
适配芯片尺寸:12*18mm (BGA132) , 14*18mm (BGA152)
BGA152探针翻盖转DIP48测试座产品简介
产品用途:BGA152/132探针测试座，对BGA152/BGA132的芯片进行测试
适用封装:BGA152/BGA132 引脚间距1.0mm
测试座:BGA152/132-1.0翻盖探针测试座
特点：采用进口探针，电流能过3A、寿命达15万次以上、测试传输速度快。翻盖换取芯片方便，操作简单
规格尺寸
型号:BGA152/132-1.0
引脚间距(mm):1.0
适配芯片尺寸:12*18mm (BGA132) , 14*18mm (BGA152)
BGA152探针翻盖转DIP48测试座产品简介
产品用途:BGA152/132探针测试座，对BGA152/BGA132的芯片进行测试
适用封装:BGA152/BGA132 引脚间距1.0mm
测试座:BGA152/132-1.0翻盖探针测试座
特点：采用进口探针，电流能过3A、寿命达15万次以上、测试传输速度快。翻盖换取芯片方便，操作简单
规格尺寸
型号:BGA152/132-1.0
引脚间距(mm):1.0
适配芯片尺寸:12*18mm (BGA132) , 14*18mm (BGA152)
深圳鸿怡电子有限公司专业研制、开发、生产各类IC的Burn-in Socket、Test Socket及各类IC测试治具，向客户提供专业的集成电路测试、烧录、老化试验等的连接解决方案；专业研制、开发、生产各类高性能、低成本的Burn-in & Test Socket及各类IC测试治具，适用于多种封装：BGA,PGA,QFN,GCSP,CLCC,QFP,TSOP一、定制SOCKET相关的端子板二、定制U盘的BGA座：BGA100/107/149/152及 共同的方案板。 三、定制EMMC(BGA/153/189)及LGA52/60测试座四、需要测FLASH的产品治具，IC测试,BGA植球，芯片测试架，U盘测试架，测试架，烧录座，老化座，返修，电脑主板，内存条测夹具，显卡，显存测试夹具，DDR3测试架摄像IC测试座 手机、蓝牙、GPS、DDR内存芯片测试夹具
