Tropel平坦度检测设备

价格：价格合理，欢迎洽谈！元
型号：FM100
生产地：美国
访问：403次
发布日期：2009/11/2(更新日期：1900/1/1)

日本Thinky公司

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高精度平坦度、平整度（Flatness）检测设备；在国外的有着成熟的应用，可以对BareWafer、Disk和精密工业部件的进行多参数的平坦度检测。

详细内容
公司简介

产品：FlatMaster100 for Wafer/Disk/Industry
Principle/原理:Grazing incidence Interferometer/斜入射干涉
Accuracy/精度:0.1μm/0.1微米
Resolution/解析度:0.01μm/0.1微米
Part Size/尺寸范围:12.5mm-100mm/12.5毫米-100毫米
Dynamic Range/动态测量范围:30μm/30微米
Data Point/数据点:Up to 250,000/达250,000以上
Measurement Time/测量时间:〈5s per Measurement/单次测量小于5s
Standard Measurements/标准测量:Flatness/Line profile/Spherical radius
Optional Measurements/可选测量:Angularity/Parallelism/Perpendicularity
Data Analysis/数据分析:3D,topographic,yield,distribution
X,Y,circular and radial slice
Flat,spherical,and conical fit data
Materials/材料:Metals/金属，Ceramics/陶瓷，Polymers/聚合体
Surface/表面:Precision ground,honed,polished and superfinished

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