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XDL系列膜厚仪能够有效并精确的测量合金属成分，只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。并且能够快速有效的测量，单一镀层10秒，双镀层20秒，三元镀层30秒。
XDL系列膜厚仪测量技术领先同行15年，在同测量领域独领风蚤，成为膜厚仪之王，精准的数据，高端先进的技术，严格的品质要求，可靠、可信、快速的服务，及一些专业意见与技术扶持，值得您的信赖。
你的需求，便是我们的追求，期待您的来电，金霖电子华南地区总代理 吴小姐 手机：1 3 6 0 3 0 3 6 7 1 5 TEL：2 9 3 7 1 6 5 1 FAX：2 9 3 7 1 6 5 3 QQ：1 3 5 1 7 9 1 4 6 6 邮箱：www.kinglin5158@163.com 地址：宝安中心区宏发中心大厦
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