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菲希尔 测厚仪X-射线荧光测厚仪

菲希尔 测厚仪

  • 价 格: 电议
  • 型号:X-射线荧光测厚仪
  • 生 产 地:
  • 访问:146次
  • 发布日期:2010/12/6(更新日期:2010/12/6)

金霖电子(香港)有限公司

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金霖电子(香港)有限公司是德国菲希尔镀层膜厚仪的中国区华南地区总代理,FISCHER已经累积了超过50年的开发及制造涂镀层膜厚仪的经验,德国菲尔镀层膜厚仪目前已经占领了镀层膜厚仪行业80%的市场,提供多种不同的便携式仪器,可以满足每个客户的需求.全球高要求的用户都给予了很高的评价。
  • 详细内容
  • 公司简介

菲希尔膜厚仪是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。
    它的出现解决了分析和测量日趋小型化的电子部件,包括线路板,芯片和连接器等带来的挑战。这种创新技术的,目前正在申请专利的X-射线光学可以使得在很小的测量面积上产生很大的辐射强度,这就可以在小到几?reg;微米的结构上进行测量。

     在经济上远远优于多元毛细透镜的Fischer专有X-射线光学设计使得能够在非常精细的结构上进行厚度测量和成分分析。XDVM-μ可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。

     具有强大功能的X-射线XDVM-μ带WinFTM? V6 软件可以分析包含在金属镀层或合金镀层中多达24种独立元素的多镀层的厚度和成分。

你的需求,便是我们的追求,期待您的来电,金霖电子华南地区总代理 吴小姐 手机:1 3 6 0 3 0 3 6 7 1 5    TEL:2 9 3 7 1 6 5 1  FAX:2 9 3 7 1 6 5 3 QQ:1 3 5 1 7 9 1 4 6 6  邮箱:www.kinglin5158@163.com   地址:宝安中心区宏发中心大厦


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