X荧光元素分析仪

技术参数 

1.检测元素范围 Na--U。
2.X射线发生装置5-50kV,10mA,50W，靶Rh。
3.分辨率149ev。
4.试样舱300mm直径X150mm高。
5.电脑操作Windows2000,标配软件。 
主要特点

1.一次性分析微量的Cd,Hg,Cr
2.分析速度快Cd40ppm 10sec.10ppm,2min.
3.单键完成操作。
4.配备环境分析软件
5.灵敏度高，能做100kcps测定 
 

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仪器介绍

JSX-3202EV环境分析用元素分析仪、应对EU（欧盟）电器及电子设备废料回收（WEEE）和特定有害物质的使用限制（RoHS）指令。 
采用新式光学系统（正在申请专利）、高能X射线发生源、高分解能探测器，可以检测塑料、包装材料、颜料中镉（Cd）、铅（Pb）、水银（Hg）、铬（Cr）等特定有害物质和砷（As）等有毒物质，检测精度达到ppm数量级。 
塑料中极微量的镉的分析精度达到5ppm，标准试样的分析精度达到2ppm（日本电子（株）应用研究中心测量值）。搭载环境分析用软件，从检测、分析到判断是否合格只需单键就可实现，操作简单，非常适合检测机关、质保部门使用。