镀层厚度测量系统

这系统的设计是基於从层面及层底镀层由反射而产生的白光干涉效应。这建设及破坏性交替的反应结果产生干光谱的不同位置。分析这光谱图像及叁考物料的折射率，可计算出镀层的厚薄。先进固态二极管阵列式感应器是这系统的心脏，这是个得奖的设计，优点是稳定性高、速度快及精确性高，更无须维修保养。

LABCOAT 系统提供需简单但准确的透明或半透明镀层或薄膜的厚度测量方法

• 透明或半透明镀层或薄膜厚度测量
• 无接触 / 无破坏性的测量
• 快、准及精是最大的优点
• 简单容易使用、不用训练也可以用

这系统的设计是基干从层面及层底镀层由反射而产生的白光干涉效应。这建设及破坏性交替的反应结果产生干光谱的不同位置。分析这光谱图像及叁考物料的折射率，可计算出镀层的厚薄。先进固态二极管阵列式感应器是这系统的心脏，这是个得奖的设计，优点是稳定性高、速度快及精确性高，更无须维修保养。

使用富弹性的光纤头，方便手提摇控操作；方法选择不同的面积位置，配合不同的应用需要。工业用途包括保护层、电介质薄膜等需求快速增长，控制厚度是镀层品质的重要指标。

LABCOAT 系统能提供应不同厚度资料，可作R&D及品管用途，应用工业范围包括如汽车、塑胶、油漆、化工、包装及微电子等。

系统规格

• 技术 ： 白光干涉理论
• 测量方式 ： 反射及透射
• 测量面积 ： 2 mm （一般）
• 厚度范围 ： 0.3 – 80 micron
• 精确性 ： 0.5% （一般）
• 光纤探头 ： 可至 25 m距离

感测器 ： MCS 600 系统

• 种类 ： 固态
• 光栅 ： 凹面全息-Concave holographic （没有可移动件）
• 波长 ： （220） 380 to 1000 nm
• 解像度 ： 0.8 nm / diode
• 整合时间 ： 0.01 to 1秒

最低电脑标淮要求

• 中央处理器：Pentium
• 记忆体 ：16 Megabyte RAM
• 适配器槽 ：PCI or PCMCIA

系统软件

蔡司 LABCOAT 软件套装，安装於Windows系统

在线处理

•  指定系统能够用於客定的在线生产控制
•  “LABCOAT” 软件提供简单而有效的光谱干涉模式的高水平的原理
•  选择镀层的种类；选择厚?的范围
• 统计分析
• 数据兼容性