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规格参数
| 型号 | LZ-200J（包括LE-200J&LH-200J） | |
| LE-200J | LH-200J | |
| 测量方法 | 电磁 | 涡电流 |
| 探头类型 | LEP-J | LHP-J |
| 测量物体 | 铁钢类基材上的非电磁性镀层 | 非电磁性金属基材上的绝缘涂层 |
| 测量范围 | 0-1500µm或60.00mils | 0-800µm或32.00mils |
| 测量单位 | µm或mils（可选） | µm或mils（可选） |
| 测量精度 | ＜15µm：±0.3µm（绝对误差） ≥15µm：±2%（相对误差） | ＜50µm：±1µm（绝对误差） ≥50µm：±2%（相对误差） |
| 校准储存 | 4 | 4 |
| 分辨率 | ＜100µm时：0.1µm； ≥100µm时：1µm | |
| 最小测量面积 | 3× | 5× |
| 显示 | 16位点阵LCD | |
| 输出 | 标准RS-232C （传输速度2400bps） | |
| 统计功能 | 测量次数、批号数量、平均值、标准偏差、最大值、最小值 | |
| 数据储存 | 涂层数据：1500条； 每组批号数量：99 | |
| 打印机 | 24字符热敏打印，打印纸宽 | |
| 电源 | 100V AC（50/50Hz）或主机6pcs.“AA”电池，打印机4pcs.“AA”电池 | |
| 操作温度 | 0-+ | |
| 重量 | 净重1.1kg 出货：2.5kg | |
| 尺寸 | 主机：120W×250D×55H mm | |
| 配件 | 携带式仪器箱一个、AC适配器一个、铁基材一块(LE/LZ-200J)、铝基材一块(LH/LZ-200J)、校准片一块、标准片一组、热敏打印纸2卷 | |
仪高南仪器（深圳）有限公司
我公司是一精密测试仪器代理商，为香港仪高集团附属成员。我集团在中国和香港地区独家代理美国Thermo-Electron X-射线测厚仪及德国ROENTGENANALYTIK宏德X-射线测厚仪。此两种仪器主要用于镀层或涂层厚度的测量，而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。以下是我集团的其他主要产品：
韩国Micro Pioneer XRF-2000系列测厚仪
新加坡QTEST CIMS 特性阻抗测试仪
俄罗斯INTRON PHT-2/ITM-525 、PTH-1/ITM-52手提式线路板孔铜测厚仪
美国Kocour库仑测厚仪（标准片）、侯氏槽、阴/阳极片、离心机等
美国DICKSON/DeltaTRAK/OMEGA温（湿）度记录仪
美国CalMetics X-Ray金属镀层测厚仪标准片
日本KYORITSU共立WAK-水质离子测试包
美国UPA / VEECO非破坏性厚度测试仪
美国WALCHEM（禾威）自动添加控制器
美国SCS OMEGA 600SMD/Ionograph 500M SMD离子污染测试仪
美国DolanJenner光纤光源
美国S.E.（SEINTL）辐射检测仪
美国EXTEC研磨 / 抛光器材及消耗品
德国SCAN-DIA研磨 / 抛光器材及消耗品
英国JENWAY分光光度计
日本IWAKI工业用泵
美国BARCOR、Kwik-Chek孔径测量规
美国ECI电镀药液分析系统
日本KETT磁感/涡流涂层测试仪
美国Start SM6000铜箔测厚仪
美国INNOV-X伊诺斯RoHS分析仪（手提式:XRF 6500，台式:Ray-tek1800）
日本SHIMADZU（岛津）分光光度计、X射线荧光分析仪
韩国K-Mac ST4080-OSP 光学测厚仪
美国Solar Metrology 太阳能薄膜电池厚度测量仪
美国SPELLMAN 高压电源供应器
美国RPS可焊性测试仪
美国MetOne尘埃离子计数器
美国UNITRON工业用显微镜系统及表面光滑度测试仪
美国EXTECH多用途万用表
美亚板材厚度测试仪、铜箔剥离强度仪
蔚仪研磨/抛光器材及耗材
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