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韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的首选.可测量各类金属层、合金层厚度.
可测元素范围：
钛（Ti） – 铀（U）
可测量厚度范围：
原子序 22-25，0.1-0.8μm
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
X-射线管：油冷,超微细对焦
高压：0-50KV（程控）
准直器：
固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm
自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
电脑系统：IBM相容,17”显示器
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度（如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等）,简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
仪高南仪器（深圳）有限公司
我公司是一精密测试仪器代理商，为香港仪高集团附属成员。我集团在中国和香港地区独家代理美国Thermo-Electron X-射线测厚仪及德国ROENTGENANALYTIK宏德X-射线测厚仪。此两种仪器主要用于镀层或涂层厚度的测量，而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。以下是我集团的其他主要产品：
韩国Micro Pioneer XRF-2000系列测厚仪
新加坡QTEST CIMS 特性阻抗测试仪
俄罗斯INTRON PHT-2/ITM-525 、PTH-1/ITM-52手提式线路板孔铜测厚仪
美国Kocour库仑测厚仪（标准片）、侯氏槽、阴/阳极片、离心机等
美国DICKSON/DeltaTRAK/OMEGA温（湿）度记录仪
美国CalMetics X-Ray金属镀层测厚仪标准片
日本KYORITSU共立WAK-水质离子测试包
美国UPA / VEECO非破坏性厚度测试仪
美国WALCHEM（禾威）自动添加控制器
美国SCS OMEGA 600SMD/Ionograph 500M SMD离子污染测试仪
美国DolanJenner光纤光源
美国S.E.（SEINTL）辐射检测仪
美国EXTEC研磨 / 抛光器材及消耗品
德国SCAN-DIA研磨 / 抛光器材及消耗品
英国JENWAY分光光度计
日本IWAKI工业用泵
美国BARCOR、Kwik-Chek孔径测量规
美国ECI电镀药液分析系统
日本KETT磁感/涡流涂层测试仪
美国Start SM6000铜箔测厚仪
美国INNOV-X伊诺斯RoHS分析仪（手提式:XRF 6500，台式:Ray-tek1800）
日本SHIMADZU（岛津）分光光度计、X射线荧光分析仪
韩国K-Mac ST4080-OSP 光学测厚仪
美国Solar Metrology 太阳能薄膜电池厚度测量仪
美国SPELLMAN 高压电源供应器
美国RPS可焊性测试仪
美国MetOne尘埃离子计数器
美国UNITRON工业用显微镜系统及表面光滑度测试仪
美国EXTECH多用途万用表
美亚板材厚度测试仪、铜箔剥离强度仪
蔚仪研磨/抛光器材及耗材
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