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nanofilm呈像椭偏仪EP3

nanofilm呈像椭偏仪

  • 价 格: 电议
  • 型号:EP3
  • 生 产 地:德国
  • 访问:1116次
  • 发布日期:2009/11/2(更新日期:1900/1/1)

源顺科技仪器有限公司

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德国nanofilm公司于1991年开发出了世界上第一台Brewster角显微镜(BAM)。近几年来,nanofilm又相继推出了不同用途的BAM产品以及相应的配套仪器。
  • 详细内容
  • 公司简介
[EP3] 德国nanofilm公司于1991年开发出了世界上第一台Brewster角显微镜(BAM),该仪器主要用于薄层膜的观察。近几年来,nanofilm又相继推出了不同用途的BAM产品以及相应的配套仪器,其最新款的EP3椭圆偏振成相系统把椭圆偏振法与显微镜法相结合,为其进入到生物分析和微电子等新的研究领域提供了可能。 应用领域: 椭圆光度法是一种非破坏性和无需标记的、用于确定膜厚和材料光学特性的方法。通过把椭圆光度法与显微镜法相结合,影像椭圆光度仪不断改进,平面精度已经能够达到1μm,立体精度已提高到1nm,为其进入到生物分析和微电子等新的研究区域提供了可能。EP3是德国nanofilm公司最近推出的新一代椭圆光度仪产品。主要应用于以下各种尖端领域: 生物芯片:同次性、膜厚、杂交、动力学等测量 LB/单层/自组合单层膜/活性剂:检测LB膜的结构、单层膜厚度、界面吸附等 接触印刷:小于1μm微结构的质量控制、膜厚测量、测量折射率和吸附 磁盘:同次性、膜硬度 (油)膜厚度、光学产品磁光学结果的观察 纳米粒子:纳米粒子上的一小块区域、折射率和吸附的分布 聚合物:膜厚、折射率和吸附测量 主要特点 采用高精度回零椭圆光度法 出色的空间分辨率(1μm), 大面积图像椭圆光度法(多达若干cm2) 单一或多重的激光波长 新颖的自动测角计,用于入射角调整n EP3View专用软件,用于仪器控制和基于Windows?的数据分析 多重关注区域及Δ,Ψ绘图n 可通过局部网络实现远程控制和服务 技术参数 原理 PCSA 配置的自动回零( Auto-Nulling )图像椭圆光度法 椭圆光度分辨率 Delta/Psi 精度 0.001 deg   绝对精度 0.01 deg (依赖于样品与测量条件) 立体分辨率 1~35μm (平面解析精度: 1μm ,纵向解析精度: 1 nm ) 激光器波长 标准为 : 532 nm  可选 405, 488, 514, 543, 594, 633, 650, 690, 785, 830, 905, nm 灵敏度 0.05~0.2nm 解析时间 快, 22×73mm 在 1.2μm 精度下只需不到一分钟的时间 图像系统 768 x 572 像素 CCD 照相机 电子组件 内置基于 Pentium 芯片的控制器,带 Matrox Meteor II 抓图器; 内置 Linux 操作系统;通过专用 100M 以太网与主机相连 电源 电压: 100 – 240 VAC, 50/60Hz 最大电流 : 10 A
源顺国际有限公司

源顺国际有限公司是一家专门从事纳米科技,材料分析,光电产品检测及生产设备销售和技术咨询的高科技公司。我们独家代理具有世界先进水平的分析仪器,产品涵盖了微观结构观察,物理性能,力学性能及电磁学性能。
Total Solution ,为客户提供整体解决方案,是源顺公司一贯坚持的宗旨。 这个宗旨象征高新科技、品质与客户服务,并将在新的世纪中,全面提升服务品质以伴随您的阔步发展。
源顺公司秉持企业文化:『诚信』、『品质』、『服务』、『团队』、『创新』,本着其宗旨『Total Solution』,继续将最先进的技术,以最佳的成本效益,提供客户最优质的精密分析仪器和生产设备,并坚持最完美的服务。

公司产品主要有:
LUM公司: 多功能的颗粒状态与稳定度分析仪
Qudix公司: 奈米 & 微米颗粒大小分析仪。
Scinco公司: 可见光及紫外光光度计(UV-Vis Spectrophotometer), Colormate。
SOFRASER公司: 在线粘度计。
ProRheo公司: 高阶粘度计。
Rame-hart公司: 接触角及表面张力分析仪。
AET 公司: 微波诱电分析仪
NANOFILM公司: 呈象椭偏仪,布氏角显微镜,LB 薄膜分析。
UNIOPT公司: 双折射分析仪。
NonoInk: Dip Pen Nanolithography (DPN) 沾笔式纳米制程技术。
ANASYS 公司: Nano-Thermal Analysis。
PNI公司: 原力显微镜(AFM)
Capres公司: MRAM,写磁头的MTJ 磁阻和隧阻&材料表面 Nano微区范围的阻抗分析.
LYNCEETEC公司: DHM (数字全析显微镜)
BEDE公司: 高分辨X射线衍射仪。
OMI公司: Solstice (晶圆或外延片的能阶Bandgap分析,Strained Silicon 分析)。
Equinox (IC or MEMS封装应变,3D热机械变形及CTE分析)。
Pascal公司: 脉冲雷射溅镀MBE(PLD MBE) – ZnO, GaN, etc.。
Cambridge Nano Tech: 原子薄膜沉积仪 (ALD).
EpiQuest公司: 研发型 MOCVD,MBE,VCSEL 氧化系统。


源顺国际公司总部设在香港,在上海和北京设立了分公司,深圳和成都设立了办事处,并有强大的技术和维修队伍,为客户提供最高水平的产品和服务。

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