X荧光光谱仪

牛津仪器发布了新型号的X-Met3000TXR+，它是一款快速、轻便的手持式XRF光谱仪。使用X-Met可以进行ROHS筛选性分析，它具有强大的测量时间开关控制功能，能够快速地定量分析数据结果，并自动判别管制标准，以不同色彩加以识别，减少了人为误判，为客户提供最佳的测量工具。

手持式XRF分析仪是专门针对欧盟ROHS指令中有害元素-镉（Cd），汞（Hg），六价铬（Cr⁶⁺），多溴联苯（PBB），多溴联苯醚（PBDE）的筛选性分析仪。中国政府ROHS指令将在2007年3月1日正式生效，美国一些州的环境条例也正在准备实施，这款仪器在检测有害物质方面的巨大改进正及时满足市场的需求。

新的仪器采用了最新的帕尔帖PentaPIN^TM 探测器 –牛津仪器专利PentaFET^®探测技术，它快速测量各种被测元素并提高其检测下限。在我们样品分析过程中总能碰到一些特殊的样品，由于其高规格的限制标准，比如镉元素，更低的探测下限是无法替代的。X-MET3000TXR+不但能做到这点，同时装备的时间控制开关，能够满足对这些ROHS样品分析过程中长时间的分析要求，为客户提供更加准确的数据结果。

对于 PentaPIN^TM 探测器来说，传统的硅（Si-PIN）探测器，三十秒测量一个样品所能达到的精度，新的探测器只需十秒就能同样达到，大大减少了测量时间。对于塑料样品的测量，能降低背体杂讯的吸收，相应增长其他元素的吸收率，改善了ROHS限制元素的检测下限。尤其针对铅和镉的探测下限，有着成倍的提高，其它元素也有了显著的改善。新的机型安装了最新的操作软件，用以处理新的探测技术所带来的全新数据处理，大大提高测量结果的准确度。

X-MET3000TXR+操作界面十分完整，针对ROHS分析，为使用者提供了塑料、金属和复合样品的不同分析方法。同时分析数据可用不同色彩加以标识，方便检测员快速判定样品是否合格还是不合格。在我们提供最新版本软件中，已添加了多种操作语言，比如，中文、俄语、德语、法语等多种语言供客户选择。

在样品分析过程中，客户所关心的辐射安全问题，牛津仪器可提供一种超大样品室同时具备安全锁桌面式的支架，供客户选择。当您在分析样品，X—MET3000TXR+就处于一种相对封闭空间，起到一种屏蔽作用，从实质上改善了X-射线对人体辐射的问题。

牛津仪器工业分析部Oxford Instruments Industrial Analysis

牛津仪器公司在XRF分析技术领域拥有超过35年经验，至今已有数以万计的各种仪器在世界各地服务于各行各业。这些仪器可以广泛地用于工业质量控制部门。XRF分析系统可以实现各种材料（固体、液体、粉末、糊状物、油脂、薄膜等）中元素组成的快速、无损检测。同时，也可实现样品表面涂镀层厚度或组成分析。

手持式XRF分析仪和移动式直读光谱仪ARC-MET是对现场合金分类及PMI测试、ROHS指定中有害元素的检测、质量控制尤为重要的工具。

Lab-X、Twin-X、ED2000 以及MDX1000各种XRF光谱仪应用于各种不同领域产品的日常分析。比如，石油产品的硫含量的分析，水泥中钙含量，我们都能提供可靠性能超群的光谱仪来满足您的分析需求，因为我们具备多类产品共性选用。

对于各种不同薄膜的厚度测量要求，牛津仪器不但您提供各种不同型号的磁感和涡流的手持式测厚仪，同时还有各类高性能的XRF测厚仪。当前我们就推出款世界级的XRF测厚仪X-Strata 960，供您选择。