薄膜测厚仪

红外薄膜测厚仪的相关技术参数如下所示：
一、系统功能：
连续对薄膜断面扫描，给出厚度尺寸，计算机进行信号采集、数据处理、图形显示、报警等功能。
二、系统配置：
工控机、1200毫米宽平面扫描机构、探头、数据处理单元。
工控机配置：8255卡、AD/DA卡，主板：FSC-1711VN/机箱：IPC810A/CPU：PⅣ2.4/内存：DDR256M/硬盘：80G/软驱：三星/光驱：52x/显示器：PHILIPS 107F5。
三、具体指标：
1、具有信号采集、计算机数据处理、图形显示、保存等功能；
2、具有定点尺寸继电器报警输出；
3、测量范围：0.2毫米以下；
4、测量速度：300Hz；
5、显示速度：2次/秒；
6、测量分辨率：0.01um；测量精度：±0.1~0.5um；
7、用户提供最大幅宽尺寸：1200毫米；
8、质保期：发货之日起计算机一年，其余一年半。
9、付款与供货：合同签订后一周内付全款的50%之后2周内发货，货到付全款的30%，验收合格后付全款的20%。


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