ARAMIS光学应变测量系统

测量零件尺寸、准确测定材料性能、采用新型材料以及改进FE计算模型，都是产品开发过程的重要因素。在所有这些领域，都需要更好地了解材料和零件的行为，这对于实验测量方法当然是一个挑战。
ARAMIS是一种非常适合于测量实际零件在静载或动载下的三维变形和应变分布的应变测量系统。

应用范围
ARAMIS应变测量系统采用了非接触式测量，并且可以测量各种材料的变形和应变，适用于以下方面：
材料测试
强度评估
测量零件尺寸
考察材料的非线性行为
描述蠕变和时效过程
确定材料的成形极限曲线(FLC)

测量步骤
采用一个或多个CCD相机对负载状态下的样件进行测量。首先，将样件的表面处理成随机的或规则的图案，这些图案会与样件一起变形。在不同加载情况下，采用CCD相机记录变形。图像处理的第一步是在初始状态的图像中定义许多宏观小平面片（facet）。然后，在加载的各个阶段，采用摄影测量技术精确地计算出试件表面上的这些小平面片的三维坐标值。

结果
根据测量得到的三维坐标值，可以精确地计算出样件表面的三维位移、应变和形状，并且具有极高的分辨率。计算结果可以用图形的方式显示，并可输出为TIFT 或JPEG格式的文件。另外，数据也可以用户定义的ASCII格式输出，以供进一步处理。

特点
样件准备简单: ARAMIS 可以采用随机或规则的图案，简化了样件的准备工作。
测量范围大：用同样的传感器测量大小不同的物体和应变，大小从1 mm至1000 mm，应变从0.05% 至100%.
全场的图形化结果：结果包含大量的数据点，高密度的数据点和测量结果的图形化显示，可以帮助更好地了解零件性能。
携带方便： 相机安放在三角架上，整个测量系统结构紧凑，配合强大的分析软件，使ARAMIS具有极高的效率和灵活性。
ARAMIS 规格
ARAMIS 1.3M
测量范围 mm2 至 〉 m2
CCD相机分辨率1280x1024 像素 ，12 位
采集频率 约 12 Hz, 24 Hz ，可选
曝光时间0.1 ms 至 1 s, 由计算机控制
异步触发器
应变测量范围 0.1% 至 〉 100%
应变测量精度 可达 0.02 %
测量结果2D/3D 位移场，应变和等高线,
系统尺寸 500x190x125 mm3

ARAMIS 4M
测量范围 mm2 至 〉 m2
CCD相机分辨率2048x2048 像素， 12 位
采集频率 6 Hz
曝光时间0.02 ms至1 s, 由计算机控制
异步触发器
应变测量范围 0.05% 至〉 100%
测量精度 可达 0.01 %
测量结果2D/3D 位移场，应变和等高线
系统尺寸 500x190x125 mm3

ARAMIS HS
测量范围 mm2 至 〉 m2
CCD相机分辨率1280x1024 像素 ，8 位
采集频率 485 Hz at 1280 x1024 pixel
970 Hz at 1280 x512 pixel
曝光时间0.004 ms 至 65 ms, 由计算机控制
异步触发器
应变测量范围 0.1% 至〉 100% Strain
测量精度 可达0.02 %
测量结果2D/3D 位移，应变和等高线
系统尺寸 500x190x125 mm3






ARAMIS系统组成