标题X射线荧光光谱仪的简介

　　X射线荧光光谱仪：

　　主要用途： 仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F（9）～U（92）之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的最大尺寸要求为直径51mm,高40mm.

　　指标信息： 1.发射源是Rh靶X光管，最大电流125mA，电压60kV，最大功率3kW 2.仪器在真空条件下工作，真空度<13pascals 3.5块分析晶体，可以分析元素周期表F～U之间所有元素，含量范围是ppm～100% 4.分析软件是Philips公司（现为PANalytical）最新版软件，既可作半定量，也可定量分析。精密度：在计算率N=1483870时， RSD=0.08% 稳定性计算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相对误差为0.03%

　　仪器类别： 0303040903 /仪器仪表 /成份分析仪器 /荧光光度计

　　附件信息： 循环水致冷单元，计算机 P10气体瓶空气压缩机

　　分析对象主要有各种磁性材料（NdFeB、SmCo合金、FeTbDy）、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，以及各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，结果接近于定量分析的准确度。X荧光分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。

　　荧光激发光谱和荧光发射光谱 2.同步荧光（波长和能量）扫描光谱 3.3D（Ex Em Intensity） 4.Time Base和CWA（固定波长单点测量） 5.荧光寿命测量，包括寿命分辨及时间分辨 6.计算机采集光谱数据和处理数据（Datamax和Gram32）