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高校应如何选择国产比表面仪
序号 | 国产流动色谱法比表面及孔径分析仪 | 国产静态容量法比表面及孔径分析仪 (以JW-BK为例) |
1 | 动态法仅国内采用,国外基本不用 | 静态容量法国际的标准方法 |
2 | 达不到真正的吸附平衡,仅为流动态的相对平衡 | 达到真正的吸附平衡,理论计算更为可靠 |
3 | 不能测量等温吸附曲线,只能测定等温脱附曲线,且在高压区失真,不能 对材料的吸附特性进行分析 | 可准确测定等温吸附曲线和等温脱附曲线,可以对材料的吸附特性进行分析 |
4 | 测量的压力点少,特别是对孔径分布的测定过于粗糙 BET比表面测3~5点,重复精度≤2% 孔径分布只测定(脱附过程)~12点 | 测量的压力点多,表明测试更为精确可靠, BET比表面一般测7~9点,重复精度≤1% 孔径分布测定,吸附过程≥26点,脱附过程≥26点,最高都可测到100点 |
5 | 氮分压低于0.05和高于0.95时,都测不准,所以孔径测试范围只限于2~50nm | 氮分压全程(0~0.995)都可精确测定,因此 孔径测试范围大大扩大,至0.7~400nm,还可提供t-图法软件,进行<2nm的微孔分析 |
6 | 测试效率 BET比表面,测5点,平均每个样品需 ~25分钟 孔径分布测试,12点,平均每个样品需 ~2小时 | 测试效率更高 BET比表面,测7~9点,每个样品需 ~15分钟 孔径分布测试,吸附加脱附>50点,每个样品3小时,若只通过吸附曲线测定孔径分布时间可减少一半,测26点,精度高且只需100分钟; |
7 | 需通过氦气做为载气,调节氦、氮气流量,达到改变氮分压的目的,影响因素多,精度低且气体消耗量很大: BET比表面测定平均每个样品消耗氮气3000ml, 氦气3000ml; 孔径分布测定平均每个样品消耗氮气20000ml, 氦气20000ml | 不需用氦气,直接通过压力传感器测定氮分压, 测量精度极高(分辨率高达0.0005),而且气体消耗量极小: BET比表面测定平均每个样品消耗氮气100ml 孔径分布测定平均每个样品消耗氮气300ml, 不消耗氦气,意义很大(氦气很贵,其原料需从美国进口,边远地区难买) |
8 | 每测一个压力点,样品管均需进出液氮杯一次,不仅费时且液氮消耗很大: BET比表面测定平均每个样品消耗液氮300ml, 孔径分布测定平均每个样品消耗液氮800ml | 每测一个压力点,样品管均不需进出液氮杯,不仅节省时间,且液氮消耗大大减少, BET比表面测定每个样品消耗液氮仅10ml, 孔径分布测定每个样品消耗液氮仅100ml |
9 | 样品预处理需另配吹扫机,真空度低,效果较差 | 样品预处理同机进行,真空度高,每个样品处理温度可单独设定,效果好且操作方便 |
10 | 所谓全自动,其实每20分钟需人为添加液氮一次,控制程序复杂,隐患多 | 真正的全自动,可以做到无人值守,全自动控制极为可靠 |
序号 | 比较内容 | 国产静态容量法比表面仪 | 进口静态容量法比表面仪 |
1 | 原理方法 | 静态容量法 | 静态容量法 |
2 | 总体系统 | 全自动、真空、吸附/脱附等温线测定、预处理、专用软件等完整系统 | 全自动、真空、吸附/脱附等温线测定、预处理、专用软件等完整系统 |
3 | 真空系统 | 极限真空度6.7×10-2Pa | 极限真空度6.7×10-2Pa 使用涡轮分子泵时可达10-6Pa |
4. | 分析站 | 薄膜电容式压力传感器 分析站数量1~2个 精度±0.15% 压力范围 0~133KPa | 薄膜电容式压力传感器 分析站数量1~5个 (分析站数量越多价格越高) 精度±0.15% 压力范围 0~133KPa |
5. | 氮分压控制 | 精度 0.0005 压力测试点最小间隔0.01 等温曲线测点可 >100点 平衡压力最小可到0.0005 | 精度 0.0005 压力测试点最小间隔0.01 等温曲线测点可 >100点 平衡压力最小可到0.0005 |
6. | 测量气体 | 除氮气外,根据用户要求可改用氪、二氧化碳等 | 除氮气外,根据用户要求可改用氪、二氧化碳等 |
7. | 测试功能 | BET比表面 Laugmuir比表面 等温吸附曲线 等温脱附曲线 BJH孔径分布(微分分布、积分分布)总孔体积、平均孔径 由吸附等温曲线分析孔径分布 由脱附等温曲线分析孔径分布 t-图法微孔分析 具有样品真密度测量功能 | BET比表面 Laugmuir比表面 等温吸附曲线 等温脱附曲线 BJH孔径分布(微分分布、积分分布)总孔体积、平均孔径 由吸附等温曲线分析孔径分布 由脱附等温曲线分析孔径分布 t-图法微孔分析 具有样品真密度测量功能 |
8 | 测试范围和精度 | 比表面 0.01至无规定上限 介孔孔径 2~400nm 微孔孔径 2 ~ 0.7nm 精度±2% | 比表面 0.01至无规定上限 介孔孔径 2~400nm 微孔孔径 2 ~ 0.7nm 精度±2% 采用分子泵的仪器测量下限更低,比表面下限0.001 微孔下限0.35nm 采用分子泵的仪器都很贵 |
9. | 孔径分布数据处理模型 | 介孔分析:BJH孔径分布,包括积分分布和微分分布,总孔体积、平均孔径,最可积孔径 微孔分析:t-图法,αs法,HK法、SF法、D&R法 包含多种核心文件库,随技术的进步与发展,对用户免费升级 | 介孔分析:BJH孔径分布,包括积分分布和微分分布,总孔体积、平均孔径,最可积孔径 微孔分析:t-图法,αs法,HK法、SF法、D&R法、NLDFT法等 |
10 | 预处理 | 同机设有两个预处理工位 也可配置4~6位真空预处理 装置 | 同机设有两个预处理工位 也可配置4~6位真空预处理 装置 |
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