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标题仪器信息

   

提供者:南京大展机电技术研究所-汪秀    发布时间:2011/4/29   阅读次数:930次 >>进入该公司展台

 

我公司主要产品有:差热分析仪、差示扫描量热仪(测氧化诱导期)、炭黑含量测试仪、热失重分析仪、同步热分析、介电常数测试仪、导热仪、量热仪、磁天平、燃烧热等等。
 
 
 
如有需要,你们可把样品寄于我,我公司免费帮您测试,结果满意可再买仪器的。
 
公司名称:南京大展机电技术研究所
 
联系电话:13451805086    汪秀
 
 
 
 
DSC 差示扫描量热仪 
测量与研究材料的如下特性
熔融与结晶过程、玻璃化转变、热稳定性/氧化诱导期OIT、多晶形相容性、反应热、物质的热焓熔点、结晶度、相转变、比热、液晶转变、固化固化度、反应动力学、纯度、材料鉴别等。
 

DSC
DZ3335差示扫描量热仪
DSC量程
0~±500mW
 
温度范围
室温~800       风冷
-30℃~800℃     *选配机械制冷
-150℃~800℃    *选配液氮制冷
升温速率
1~60/min
降温速率*
1~20/min
温度分辨率
0.1℃
温度波动
±0.1℃
温度重复性
±0.1℃
控温方式
升温、恒温、降温(全程序自动控制)
曲线扫描
升温扫描、*降温扫描
气氛控制
静态或动态气氛 选配气体流量控制装置
显示方式
汉字大屏液晶显示
数据接口
RS232接口,
仪器标准
配有标准物质(铟、锡、铅)
用户可自行校正温度和热焓
软件
专用软件(不定期免费升级)提供热动力学分析功能
备注
* 为选配项目           上门安装调试 质保五年

 
 
 
 
 
 
 
DTA差热分析仪
DTA:差热分析是在程序控制温度下,测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中,样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如:相转变,熔化,结晶结构的转变,沸腾,升华,蒸发,脱氢反应,断裂或分解反应,氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。

DTA
DZ3320A
温度范围
室温~1150℃           最高可扩展至1550℃
量程范围
0~±2000μV
DTA精度
±0.1μV
升温速率
1~60℃/min
温度分辨率
0.1℃
温度准确度
±0.1℃
温度重复性
±0.1℃
 
温度控制
升温:程序控制        可根据需要进行参数的调整
降温:风冷 程序控制   可选配 半导体冷却系统、液氮冷却系统 等
恒温:程序控制        恒温时间任意设定
炉体结构
炉体采用上开盖式结构,代替了传统的升降炉体,精度高,易于操作
气氛控制
气体流量计,气氛转换装置
数据接口
RS-232串口通讯     配套数据线和操作软件
主机显示
汉字大屏液晶显示 蓝底白字
参数标准
配有标准物:用户可自行对温度进行校正
基线调整 :用户可通过基线的斜率和截距来调整基线
软件
专用软件(不定期免费升级)提供热动力学分析功能
备注
上门安装调试 质保五年

STA-200同步热分析仪   
产品介绍:
同步热分析仪将热重分析TG与差热分析DTA或差示扫描DSC结合为一体,在同一次测量中利用同一样品可同步得到TG与DTA或DSC的信息。
 技术指标:
温度范围: 室温-1150℃任意设定       可扩展至1550℃
升温速率:1 ~60/min 
称重范围:1~200 mg                   可扩展至2g
称重解析度:0.1 ug
DSC量程:200mW    
温度分辨率:0.1℃
温度波动:±0.1℃
温度重复性:±0.1℃
DSC解析度:0.1mW
DSC精确度:0.1mW
控温方式:升温、恒温、降温(程序自动控制)
显示方式:汉字大屏液晶显示
输出方式:微机系统,打印机
配件:RS232接口,专用软件、气体流量计、气氛转换装置
电源:AC220V  50Hz 
软件不定期免费升级
免费质保期:五年, 
所有参数可根据客户需求进行调整
 
 
 
 
 
 
 
 
DZ3339热重分析仪
产品介绍:
热重分析仪主要测试样品随温度变化所产生的重量变化。
 
技术指标:
温度范围: 室温-1150℃任意设定       可扩展至1550℃
升温速率:1 ~60℃/min         
称重范围:1~200 mg                   可扩展2g
称重解析度:0.01mg
温度分辨率:0.1℃
温度波动:±0.1
温度重复性:±0.2
控温方式:升温、恒温、降温(程序自动控制)
显示方式:汉字大屏液晶显示
输出方式:微机系统,打印机
.配件:RS232接口,专用软件、气体流量计、气氛转换装置
 
 
 
 
 
DZX-600 X荧光分析仪
X荧光分析仪是我公司最新研制的分析仪,适用于水泥、矿山、不锈钢、铝合金、铜锌合金、铅合金等,耐火材料、铁合金、玻璃等行业
 
仪器特点:
1.同时分析测量多种元素(根据客户要求配置从Na到U的任意多种元素);
2.可检测固体﹑液体﹑粉末,无需复杂的制样过程;
3.采用进口SI-PIN探测器,分析速度快;
4.精确度高,稳定性好,故障率低;
5.采用多层屏蔽保护,辐射安全性可靠;
6.基于WINDOWS XP/VISTA 中文应用软件功能丰富,独特先进的分析方法,各种图表和趋势图为操作者提供直观的支持,操作简单,使用方便,分析结果可直接输出到Excel,便于进行统计分析。
主要技术指标:
1多功能置样装置
X荧光分析仪的置样装置具有可容纳各种形态被测样品的样品室。
A.样品种类:固体﹑液体﹑粉末。
B.样品室的环境:可选择空气﹑真空。由软件自动控制,无需人工操作。
2 X射线管激发系统
系统采用50KV的低功率正高压X射线发生器作为激发源。由高电压发生器,X射线发生器及控制显示系统等部分构成。
A.高压发生器:电压与电流采用软件自动控制及显示。
电压范围:0V至50kV连续可调。
电流范围:0mA至1mA连续可调。
B. X射线发生器:采用低功率﹑自然冷却﹑高寿命的X光管,并根据实际应用需要选择靶材。
3进口的高分辨率SI-PIN探测器系统 SI-PIN电制冷高分辨率高计数率探测器。
4 系统软件
A.操作: WINDOWS XP操作系统软件,功能强大,使用方便。
B.功能:能谱显示,分析元素设置,能量刻度,X光高压、电流自动控制,自动真空控制。
C.分析方法:线性拟合,二次曲线,强度校正,含量校正,基本参数方法。
D.仪器的漂移自动修正:保证仪器的分析结果长期稳定。
 
 
 
 
 
 
 
 
DZ5001介电常数测定仪
介质损耗和介电常数是各种金属氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物质的一项重要的物理性质,通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究
技术指标
Q值量程分档:30、100、300、999、自动换挡
电感测量范围:0.1µH~1H
电容测量范围:1~460pF(460pF以上的电容测量见使用规则)
准确度:±0.2pF.
振荡频率范围:10kHz~50MHz;
Q合格指示预置功能,预置范围:5~999.
试样尺寸: 厚度2±0.5mm,长*宽:>30mm*30mm
 
 
 
DZDR-P 智能单平板稳态导热仪
产品介绍:
导热系数是用来衡量材料的导热特性和保温性能的重要参数,耐热保温材料的性能由材料的导热系数决定。导热性能的精确测定对于环境工程、建筑工程、工业工程、科研、节能等都有重要意义。
技术指标:
最大可测试件尺寸:长*宽*厚 :300*300*50mm
温度控制精度:0.05℃
分辨率:0.01℃
热板最大设定温度:100℃
冷板最小设定温度:-30℃
测量精度:3%
导热系数测定范围0.010~5.000w/(k.m)
 
 
 
 
DZDR-R导热系数测试仪(热流法)
产品介绍:
本仪器主要测试薄的热导体、固体电绝缘材料、导热树脂硅胶、氧化铝瓷、氧化铍瓷等陶瓷导热系数测定。仪器参考标准:MIL-I-49456A(绝缘片材、导热树脂、热导玻纤增强);GB5598-85(氧化铍瓷导热系数测定方法);D5470-95(薄的热导性固体电绝缘材料传热性能的测试标准)等。广泛应用在大中院校,科研单位,质检部门和生产厂的材料分析检测。
技术指标
试样大小:Φ30mm
试样厚度:0.02-10mm
温度范围:40-150,最高可达300
真空度:0.15Pa
测试范围:0.015~10W/m·k
测试精度:优于3%
实现计算机自动测试,并实现数据打印输出。
 
 
 
 
 
DZLR-P 量热仪
应用范围:
氧弹量热仪被广泛用于固态和液态燃料(煤炭、焦炭、汽油、柴油、航空煤油等)、废弃物、爆炸材料、食品、饲料、化学品、建材等物质发热量的精确测定。
可用于电力、煤炭、冶金、石化、环保、建材、造纸、地勘、科研院校等行业部门测量煤炭、焦炭、石油及水泥黑生料等可燃物质的热值
技术参数:
最大热容量:33000J(8000卡路里);
量热计类型:等温式;
氧弹承压:20MPa ;
氧弹容积:300毫升;
相对偏差:0.1%;
温度测量范围:5-50   
温度分辨率:0.0001℃;
测量时间: 30分钟左右;
水填充:自动
启动后自动搅拌、水温调节,点火、判别点火成败、采温、计算、校正 ,除装氧弹外,实现测定过程全自动化,无人为误差,准确度及精密度极高
显示方式: 中文大屏汉字液晶显示;
微电脑控制系统:采用最新进口微电子处理器,更加稳定、高速的处理运算能力;

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