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图1 环境试验类型 |
环境试验 |
机械环境试验 |
综合环境试验 |
气候环境试验 |
所处环境应力:冲击、振动、碰撞、加速、高噪音、疾风 |
所处环境应力:机械环境和气候环境相结合的环境因素 |
所处环境应力:温湿度、气体、盐雾、风雨、压力、太阳辐射 |
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失效 | 环境应力条件 | 敏感元件和材料 | |||
大分类 | 中分类(原因) | 失效模式 | |||
温度 | 高温老化 | 老化 | 抗拉强度老化 绝缘老化 | 温度+时间 | 塑料、树脂 |
化学变化 | 热分解 | 温度 | 塑料、树脂 | ||
软化、熔化、汽化、升华 | 扭曲 | 温度 | 金属、塑料、热保险丝 | ||
高温氧化 | 氧化层的结构www.531718.com | 温度+时间 | 连接点材料 | ||
热扩散(金属化合物结构) | 引线断裂 | 温度+时间 | 异金属连接部位 | ||
中级破坏 | 半导体 | 热点 | 温度、电压、电子能 | 非均质材料 | |
热积聚燃烧 | (剩余的热燃烧) | 燃烧 | 加热+烘干+时间 | 塑料(例如带有维尼纶和聚氨酯油漆的木质芯片) | |
穿刺 | 内在的 | 短路 绝缘性差 | 高温(200~400℃) | 银,金,钢铁,镁,镍,铅,钯,铂,钽,钛,钨,铝 | |
非内在的 | 短路 绝缘性差 | 高温(400~1000℃) | 铜,银,铁,镍,钴,锰,金,铂和钯的卤化物 | ||
迁移 | 电迁移 | 断开,引线断裂 | 温度(0.5Tm)+电流(密度为106A/cm2) | 例如钨,铜,铝(特别是集成电路中的铝引线) | |
蔓延 | 金属 | 疲劳,损坏 | 温度+应力+时间 | 弹簧,结构元件 | |
塑料 | 疲劳,损坏 | 温度+应力+时间 | 弹簧,结构元件 | ||
低温易脆 | 金属 | 损坏 | 低温 | 体心立方晶体(例如铜,钼,钨)和密排立方晶体(例如锌,钛,镁)及其合金 | |
塑料 | 损坏 | 低温+低湿度 | 高玻璃化温度(例如纤维素乙烯氨),低弹性的非晶体(例如苯乙烯,丙烯酸甲酯) | ||
焊剂流动 | 焊剂流粘到冷金属表面 | 噪声,连接不实 | 低温 | 特别是连接到印刷电路板上的元件(例如开关,连接器件) |
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