温度/低气压试验的试验机理及国标试验方法的应用

随着人们在地球上活动范围的扩大，随着航天航空和海洋开发事业的迅速发展，随着电工电子
产品在各个方面的广泛应用，产品所遇到的环境条件变得日益复杂和多样。
大气压力的变化就是其中之一。,
而大气压只要取决于海拔高度，随着高度增加,大气压逐渐降低,大气逐渐变得稀薄,高度接近
5.5km处时,大气压降低到海平面标准大气压的一半；接近16km处的大气压为标准海平面值的1/10；
接近31km 处的大气压为标准海平面值的1/100。.地球表面有相当大的地区的地势较高，我国约有
50%的面积高于1000m, 约有25%的面积高于2000m，地势较高的地区的气压较沿海地区的气压要
低。对于航空产品，由于飞机最低也要飞几千米，一般均要在万米及万米以上，最高可达30km,故
机载设备将承受着更低的气压作用。气压的降低势必对高原地区使用的电工电子产品及机载设备产
生影响。
许多产品的试验报告及实地考察都反映了气压降低对性能的影响。气压降低对产品的直接影响
主要实气压变化产生的压差作用。这对于密封产品的外壳会产生一个压力，在这个压力的作用下会
使密封破坏。然而气压降低的主意作用还在于因气压降低伴随着大气密度的降低及空气的平均自由
程增大，有次会使产品的性能受到很大影响。
散热产品的温升随大气压降低而增加。电工电子产品有相当一部分是发热产品，如电机、变压
器、接触器、电阻器等。这些产品在使用中要消耗一部分电能变成为热能，这样产品会发热，温度
升高。产品因发热而使温度升高，这温度升高部分称之为温升。散热产品的温升随大气压的降低而
增加，随海拨高度的增加而增加。导致产品的性能下降或运行不稳定等现象出现。
低气压对密封产品的影响。
低气压对密封产品的影响主要是由于大气压的变化形成压差。压差引起一个从高压指向低压的
力。在该力作用下，使气体流动来达到平衡。而对于密封产品，其外壳将承受此力。此力可以使外
壳变形、密封件破裂造成产品失效。
低气压对电性能的影响。海拨高度增加气压降低，对电工电子产品的电气性能也会产生影响。
特别是以空气作为绝缘介质的设备，低气压对设备的影响更为显著。在正常大气条件下，空气可以
是较好的绝缘介质，许多电气产品以空气为绝缘介质。这些产品用于高海拨地区或作为机载设备时，
由于大气压降低，常常在电场较强的电极附近产生局部放电现象，称之为电晕。更严重的是，有时
会发生空气间隙击穿。这意味着设备的 正常工作状态被破坏。
在低气压下,特别是伴随高温条件时空气介电强度显著降低，即电晕起始电压和击穿电压显著降
低，从而使电弧.表面放电或电晕放电的危险性增加。
低气压试验的目的。
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由于大气压的降低,产品的机械性能和电气性能都会受到很大影响,有时会导致产品的破坏。由于
高度的增加，大气压的降低，大气密度的降低，空气也变得稀薄。在我们考虑得高度范围内（低于
3000 米），空气中得分子得平均自由程仍然很小，大气仍可看成是连续介质流体。空气的流动特性
和热力学特性在低气压条件下于正常大气条件下一样遵循相同的物理规律。但低气压的情况于正常
大气相比。产品受到不同的影响。例如产品散热情况于正常大气条件不同。由此可知，低气压条件
下，辐射散热所占比例增大，对流散热所占比例降低，此外由于大气密度的降低，散热产品周围也
将发生变化。低气压对产品的影响在正常大气条件下是无法模拟的，因此必须进行低气压试验。由
于气压低，产品的机械和电气性能都会受到很大影响，有时会导致产品的损坏。低气压环境条件对
产品的影响在正常大气条件下是无法模拟的，必须按相关标准进行试验。只有这样，产品质量才能
得到保证。随着市场经济体制的逐步建立，企业间的竞争愈来愈激烈，而竞争的焦点则是产品的质
量和价格，但更主要的是质量。保证产品的高质量才能保证企业在竞争中永远立于不败之地。为此，
一定要加强环境条件试验的标准化工作，从产品设计就开始 考虑环境变化对产品的影响，提高产品
对环境的适应性，从而提高产品质量。
目前有关低气压试验的国家标准有：
GB2421-1989《电工电子产品基本环境试验规程总则》
GB2423.21-1991《电工电子产品基本环境试验规程试验M：低气压试验方法》
GB/T2423.25-1992《电工电子产品基本环境试验规程试验 Z/AM：低温/低气压综合试验方法》
GB/T2423.26-1992《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM ：高温/低气压综合试验方法》
GB2423.27-2005《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD：低温/低气压/湿热连续综合试
验方法》
GB/T2424.15-1992《电工电子产品基本环境试验规程温度/低气压综合试验导则》
GJB150.2-86 《军用设备环境试验方法 低气压（高度）试验》
在GB/T2424.15-1992《电工电子产品基本环境试验规程温度/低气压综合试验导则》中主要对温
度、低气压的适用范围，综合影响试验设备等进行了阐述。
而在GB/T2423.25-1992《电工电子产品基本环境试验规程试验 Z/AM：低温/低气压综合试验方
法》GB/T2423.26-1992《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM ：高温/低气压综合试验方法》
中对试验方法，严酷等级、试验目的，条件试验进行了具体规范。
如在GB/T2423.25-1992《电工电子产品基本环境试验规程试验 Z/AM：低温/低气压综合试验方
法》规定：
1．2．2试验方法一次只能试验一个散热试验样品，试验样品一般应安GB2423.1的规定在无强
迫空气循环的试验箱中进行。
3．2．2 如过试验过程中试验样品要工作，则要对其进行检测，以保证试验样品能够正常工作。
而后在温度保持在规定值的情况下，将试验箱压力降到有关标准规定的试验压力。将此温度、压力
条件保持规定的时间。
在试验中要区分散热和非散热试验样品，下图是标准规定的试验剖面图：
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在标准中还规定了严酷等级