VIEW 系统提供适合手头测量应用的光学系统选择。 VIEW Benchmark、Pinnacle 和 Summit 系统可配置单倍放大固定镜头光学系统或独特的双倍放大光学系统。这两种布置都提供光学可互换的物镜，以允许放大倍率和视场尺寸与被测量的特征相匹配。 单倍放大系统很简单，其光学分辨率与配备标准物镜的 2.0 兆像素数码相机的像素尺寸非常匹配。该系统非常适合具有许多相似特征的零件的高速测量，对于这些零件，单次放大就足够了。 双倍放大系统利用两条完整的光路，每条光路都有自己的相机。高倍率路径是低倍率的 4 倍，提供瞬时变焦能力以获得更高的光学分辨率。该系统非常适合测量不同特征需要宽视场和高精度的零件。双倍放大系统也是需要佳自动对焦性能的应用的理想选择。 两种系统都可以与几种相机型号（单色或彩色）中的一种搭配使用，这些型号将像素大小和密度与配置的镜头系统的光学分辨率相匹配。可用的光学和相机配置范围允许 VIEW 为手头的应用优化系统。 VIEW MicroLine systems for micro-fabricated part measurement use a semiconductor inspection microscope configured with a horizontal illuminator, multi-objective lens turret ａnd an appropriate selection of Bright Field or Bright Field / Dark Field objectives. MicroLine 系统有多种光学和相机配置可用，具体取决于要测量的零件的性质。
