X射线镀层测厚仪  (韩国 ISP)资料共享 http://www.app17.com/c141840/products/d8683102.html

产品配置及技术指标说明

u  测量原理：能量色散Ｘ射线分析               u  样品类型：液体/固体/粉末

u  X射线光管：50KV，1mA                    u  滤光片：6个滤光片自动转换

u  检测系统：Si-Pin探测器                     u  能量分辨率：149eV

u  检测元素范围：Al (13) ~ U(92)                u  检测厚度：0.1/0.2/0.4/0.5/1mm

u  应用程序语言：韩／英／中                   u  分析方法：FP/校准曲线，吸收，荧光 

EDX-150T型号光谱仪软件算法的主要处理方法

1) Smoothing谱线光滑处理

2) Escape Peak Removal 逃逸峰去除

3) Sum Peak Removal  叠加峰去除

4) Background Removal  背景勾出

5) Blank Removal  空峰位去除

6) Intensity Extraction  强度提取

7) Peak Integration  图谱整合

8) Peak Overlap Factor Method  波峰叠加因素方法

9) Gaussian Deconvolution  高斯反卷积处理

10) Reference Deconvolution  基准反卷积处理

EDX-150T型号光谱仪软件功能

1)软件应用
- 单镀层测量
- 线性层测量，如：薄膜测量
- 双镀层测量
- 针对合金可同时进行镀层厚度和元素分析
- 三镀层测量。
- 无电镀镍测量
- 电镀溶液测量
- 吸收模式的应用 DIN50987.1/ ISO3497-A2

- 励磁模式的应用DIN50987.1/ ISO3497-A1
- 基本参数法可以满足所有应用域的测量

2) 软件标定
- 自动标定曲线进行多层分析

- 使用无标样基本参数计算方法

- 使用标样进行多点重复标定

- 标定曲线显示参数及自动调整功能

3) 软件校正功能：
- 基点校正（基线本底校正）

- 多材料基点校正，如：不锈钢，黄铜，青铜等

- 密度校正

4) 软件测量功能：
- 快速开始测量

- 快速测量过程

- 自动测量条件设定（光管电流，滤光片，ROI）

5) 自动测量功能（软件平台）

- 同模式重复功能（可实现多点自动检测）

- 确认测量位置 (具有图形显示功能)

- 测量开始点设定功能（每个文件中存储原始数据）

- 测量开始点存储功能、打印数据

- 旋转校正功能

- TSP应用

- 行扫描及格栅功能

6) 光谱测量功能

- 定性分析功能 （KLM 标记方法）

- 每个能量/通道元素ROI光标

- 光谱文件下载、删除、保存、比较功能

- 光谱比较显示功能：两显示/叠加显示/减法

- 标度扩充、缩小功能（强度、能量）

7） 数据处理功能

- 监测统计值： 平均值、 标准偏差、 大值。

小值、测量范围，N 编号、 Cp、 Cpk，

- 独立曲线显示测量结果。

- 自动优化曲线数值、数据控件

8）其他功能

- 系统自校正取决于仪器条件和操作环境

- 独立操作控制平台

- 视频参数调整

- 仪器使用单根USB数据总线与外设连接

- Multi-Ray自动输出检测报告（HTML，Excel）

- 屏幕捕获显示监视器、样本图片、曲线等.......

- 数据库检查程序

- 镀层厚度测量程序保护。

9） 仪器维修和调整功能

- 自动校准功能；

- 优化系统取决仪器条件和操作室环境；

- 自动校准过程中值增加、偏置量、强度、探测器分辨率，迭代法取决于峰位置、CPS、主X射线强度、输入电压、操作环境。

原创作者：元丰技术（东莞）有限公司