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电子元器件替代测试\DDR一致性测试\DDR专业测试 \ Interposer 测试
DDR3物理层测试，故障分析，眼图测试 电子元器件替代测试、DDR2、DDR3、DDR4一致性测试、DDR专业测试、Interposer 测试
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DDR2\DDR3\DDR4一致性测试\ \ Interposer 测试
DDR DQRD数据读\ DQWR数据写\ DDR2 DDR3 DRD数据读\ DQWR数据写测试
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安规测试 chroma19032直流耐压测试 交流耐压测试
安规测试 chroma19032直流耐压测试 交流耐压测试 在耐压测试中，测试电压的标准是判断良品的主要因素之一。许多耐压测试设备以变压器将低电压转换为高电压後输出，但仪器的内部阻抗会造成分压，尤其在一些品质不良的耐压测试设备中，实际输出电压无法达到安规标准。
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安规测试 chroma19032产品绝缘电阻测试 电源处绝缘电阻测试
安规测试 chroma19032产品绝缘电阻测试 电源处绝缘电阻测试 耐压测试是最常见的安规测试之一，常见的dielectric withstand、high potential、hipot test都是指耐压测试。耐压测试的主要目的测试DUT(Device under Test)的绝缘能力。故当设备在运作时，对测试点施以一高压，测试是否有绝缘破坏(Breakdown)或电气闪络
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安规测试 chroma19032接线端子接地电阻测试 外壳接地电阻测试
安规测试 chroma19032接线端子接地电阻测试 外壳接地电阻测试 安规测试仪用于高电压元、器件的耐压测量试验（用交、直流耐压仪），如硅堆等。主要是用来检测产品是否漏电、是否接地良好、会不会伤害人身安全的专用仪器，主要检测项目有电压、泄漏电流、绝缘电阻和接地电阻。
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EMC测试 EFT测试 浪涌测试EFC整改电路
EMC测试 EFT测试 浪涌测试EFC整改电路 浪涌（冲击）抗扰度试验所采用的国家标准为：GB/T17626.5-2008《电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验》它等同于国际标准：IEC61000-4-5:2005 标准中描述了两种不同的波形发生器
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EMC测试 近场测试 近场探头 频谱测试近场
EMC测试 近场测试 近场探头 频谱测试近场 EMC即电磁兼容性，是指“一种器件、设备或系统的性能，它可以使其在自身环境下正常工作并且同时不会对此环境中任何其它设备产生电磁干扰。
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EMC测试 静电放电测试 ESD放电测试 ESD电路整改
EMC测试 静电放电测试 ESD放电测试 ESD电路整改 EMC测试又叫做电磁兼容（EMC），指的是对电子产品在电磁场方面干扰大小（EMI）和抗干扰能力（EMS）的综合评定，是产品质量最重要的指标之一，电磁兼容的测量由测试场地和测试仪器组成。
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SATA3.0 电气特性测试 HOST测试 Device测试 眼图测试
SATA3.0 电气特性测试 HOST测试 Device测试 眼图测试 ATA Revision 3.0规范主要新特性：$r$n1、可在存储单元、磁盘驱动器、光学和磁带驱动器、主机总线适配器(HBA)之间提供6Gbps速度的链路速度，并保证新的网络性能水平。当然，6Gbps(750MB/s)只是理论值，事实上SATA接口发送信息的速度为600MB/s，而受制于系统各部件的影响，实际速度会更低一些，而且
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SATA2.0 电气特性测试 HOST测试 Device测试 眼图测试
SATA2.0 电气特性测试 HOST测试 Device测试 眼图测试 SATA分别有SATA 1.5Gbit/s、SATA 3Gbit/s和SATA 6Gbit/s三种规格。未来将有更快速的SATA Express规格$r$n$r$n与并行ATA相比，SATA具有比较大的优势。
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SATA1.0 电气特性测试 HOST测试 Device测试 眼图测试
SATA1.0 电气特性测试 HOST测试 Device测试 眼图测试 SATA是Serial ATA的缩写，即串行ATA。它是一种电脑总线，主要功能是用作主板和大量存储设备（如硬盘及光盘驱动器）之间的数据传输。这是一种完全不同于并行PATA的新型硬盘接口类型，由于采用串行方式传输数据而得名。
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MIPI M-PHY 电气特性测试 Electrical Test 眼图测试 camera 和 tablet 测试
MIPI M-PHY 电气特性测试 Electrical Test 眼图测试 camera 和 tablet 测试 MIPI M-PHY专为需要快速通信通道以实现高分辨率图像，高视频帧速率和大型显示器或存储器的数据密集型应用而设计。
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MIPI D-PHY 电气特性测试 Electrical Test 眼图测试 camera 和 tablet 测试
MIPI D-PHY 电气特性测试 Electrical Test 眼图测试 camera 和 tablet 测试 MIPI(Mobile Industry Processor Interface)是2003年由ARM, Nokia, ST ,TI等公司成立的一个联盟，目的是把手机内部的接口如摄像头、显示屏接口、射频/基带接口等标准化，从而减少手机设计的复杂程度和增加设计灵活性。
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MIPI C-PHY 电气特性测试 Electrical Test 眼图测试 camera 和 tablet 测试
MIPI C-PHY 电气特性测试 Electrical Test 眼图测试 camera 和 tablet 测试 MIPI C-PHY是MIPI Alliance制定的便携设备中数据传输的规格，D-PHY1组线路最大2.5Gbps，而C-PHY可达到5.7Gbps的信号速度。$r$n$r$nD-PHY之后还制定出了M-PHY规格，C-PHY介于D-PHY和M-PHY之间成了标准规格。
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SFP一致性测试 眼图测试 眼宽测试 眼高测试 抖动测试
SFP一致性测试 眼图测试 眼宽测试 眼高测试 抖动测试 SFP是SMALL FORM PLUGGABLE的缩写，可以简单的理解为GBIC的升级版本。SFP模块体积比GBIC模块减少一半，可以在相同的面板上配置多出一倍以上的端口数量。
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XFP一致性测试 眼图测试 眼宽测试 眼高测试 抖动测试
XFP一致性测试 眼图测试 眼宽测试 眼高测试 抖动测试 XFP（10 Gigabit Sma Form Factor Puggabe）是一种可热插拔的，独立于通信协议的光学收发器，通常传输光的波长是 850nm， 1310nm 或1550nm，用于10G bps的SONET/SDH，光纤通道，gigabit Ethernet，10 gigabit Ethernet和其他应用中，也包括DWDM链路
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SI信号完整性测试常见的完整性问题及原因 PCB布线平行距离长 过快变化的电流
SI信号完整性测试常见的完整性问题及原因 PCB布线平行距离长 过快变化的电流 信号完整性问题的真正起因是不断缩减的信号上升与下降时间。 一般来说，当信号跳变比较 慢即信号的上升和下降时间比较长时， PCB中的布线可以建模成具有一定数量延时的理想导线而确保有相当高的精度 。
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