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EEPROM器件性能测试 眼图测试 抖动测试 时序测试 电源纹波测试 由于EPROM操作的不便，后来出的主板上BIOS ROM芯片大部分都采用EEPROM（Electrically Erasable Programmable ROM，电可擦除可编程ROM）。
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EPROM 器件性能测试 眼图测试 抖动测试 时序测试 电源纹波测试 存储芯片 EPROM是一种断电后仍能保留数据的计算机储存芯片——即非易失性的（非挥发性）。
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连接器 器件性能测试 眼图测试 抖动测试 时序测试 电源纹波测试
连接器 器件性能测试 眼图测试 抖动测试 时序测试 电源纹波测试 随着电子通讯技术的快速发展，集成电路的封装与板上互连，对信号传输的带宽要求越来越高。与此同时，互连通道传输的速率越来越快，逻辑门的判决时间窗口也越来越小。
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SOC 器件性能测试 眼图测试 抖动测试 时序测试 电源纹波测试 SoC定义的基本内容主要在两方面：其一是它的构成，其二是它形成过程。
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ASIC被认为是一种为专门目的而设计的集成电路。是指应特定用户要求和特定电子系统的需要而设计、制造的集成电路。ASIC的特点是面向特定用户的需求，ASIC在批量生产时与通用集成电路相比具有体积更小、功耗更低、可靠性提高、性能提高、保密性增强、成本降低等优点。
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CPU 器件性能测试 眼图测试 抖动测试 时序测试 电源纹波测试 中央处理器（CPU），是电子计算机的主要设备之一，电脑中的核心配件。其功能主要是解释计算机指令以及处理计算机软件中的数据。
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GPU器件性能测试 眼图测试 抖动测试 时序测试 电源纹波测试 一个光栅显示系统离不开图形处理器，图形处理器是图形系统结构的重要元件，是连接计算机和显示终端的纽带。
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电源管理芯片 器件性能测试 眼图测试 抖动测试 时序测试 电源纹波测试
电源管理芯片 器件性能测试 眼图测试 抖动测试 时序测试 电源纹波测试 电源管理芯片，是在电子设备系统中担负起对电能的变换、分配、检测及其他电能管理的职责的芯片.主要负责识别CPU供电幅值，产生相应的短矩波，推动后级电路进行功率输出。
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随机存取 器件性能测试 眼图测试 抖动测试 时序测试 电源纹波测试
随机存取 器件性能测试 眼图测试 抖动测试 时序测试 电源纹波测试 随机存取存储器的基本结构可分为三个部分：存储矩阵，地址译码器，读写电路
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EEPROM 器件性能测试 眼图测试 抖动测试 时序测试 电源纹波测试
EEPROM 器件性能测试 眼图测试 抖动测试 时序测试 电源纹波测试 EEPROM 是指带电可擦可编程只读存储器。是一种掉电后数据不丢失的存储芯片。
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闪存 器件性能测试 眼图测试 抖动测试 时序测试 电源纹波测试
闪存 器件性能测试 眼图测试 抖动测试 时序测试 电源纹波测试 快闪存储器，是一种电子式可清除程序化只读存储器的形式，允许在操作中被多次擦或写的存储器。
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单片机 器件性能测试 眼图测试 抖动测试 时序测试 电源纹波测试
单片机 器件性能测试 眼图测试 抖动测试 时序测试 电源纹波测试 单片机是一种集成电路芯片，是采用超大规模集成电路技术把具有数据处理能力的中央处理器CPU、随机存储器RAM、只读存储器ROM、多种I/O口和中断系统、定时器/计数器等功能集成到一块硅片上构成的一个小而完善的微型计算机系统，在工业控制领域广泛应用。
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FPGA 器件性能测试 眼图测试 抖动测试 时序测试 电源纹波测试 FPGA设计不是简单的芯片研究，主要是利用 FPGA 的模式进行其他行业产品的设计。 与 ASIC 不同，FPGA在通信行业的应用比较广泛。通过对全球FPGA产品市场以及相关供应商的分析，结合当前我国的实际情况以及国内领先的FPGA产品可以发现相关技术在未来的发展方向，对我国科技水平的全面提高具有非常重要的推动作用。
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RAM 器件性能测试 眼图测试 抖动测试 时序测试 电源纹波测试 随机存取存储器（RAM），也叫主存，是与CPU直接交换数据的内部存储器。
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ROM 器件性能测试 眼图测试 抖动测试 时序测试 电源纹波测试 只读存储器 只读存储器（Read-Only Memory，ROM）以非破坏性读出方式工作，只能读出无法写入信息。信息一旦写入后就固定下来，即使切断电源，信息也不会丢失，所以又称为固定存储器。
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