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北京淼森波信息技术有限公司 主营产品:HDMI2.0 测试,以太网测试,以太网眼图测试,以太网一致性测试,HDMI测试,HDMI眼图测试,HDMI一致性测试,USB2.0测试,USB2.0眼图测试,USB2.0一致性测试,USB3.0测试,USB3.0眼图测试,USB3.0一致性测试,SATA测试,SATA眼图测试,SATA一致性测试,DDR测试,DDR眼图测试,DDR一致性测试,PCIE测试,PCIE眼图测试,PCIE一致性测试,EMMC测试,EMMC眼图测试,FLASH眼图测试,MIPI测试,MIPI眼图测试 MIPI一致性测试,LVDS眼图测试,DVI眼图测试,VGA眼图测试,eSATA眼图测试, SAS眼图测试,DisplayPort眼图测试,高速信号眼图测试,电源完整性测试,芯片验证测试,芯片demo测试

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  • DDR3 复位测试 CLK测试 DQS测试

    DDR3 复位测试 CLK测试 DQS测试 眼图测试 抖动测试 时序测试

    价 格:¥电议型 号:产 地:中国大陆

  • DDR3 上电时序测试 电源纹波测试 时钟测试 数据信号测试

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  • DDR2 复位测试 CLK测试 DQS测试

    DDR2 复位测试 CLK测试 DQS测试 以太网一致性测试 时序测试

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  • DDR2 控制信号测试 控制信号过冲测试 控制信号高低电平测试

    DDR2 控制信号测试 控制信号过冲测试 控制信号高低电平测试

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  • DDR2 时钟测试 数据信号测试

    DDR2 控制信号测试 控制信号过冲测试 控制信号高低电平测试

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  • DDR2 DDR3 DDR4 上电时序测试 电源纹波测试

    DDR2 DDR3 DDR4 上电时序测试 电源纹波测试 开关电源自身产生的噪声是一种高频的脉冲串, 由发生在开关导通与截止瞬间产生的尖脉冲所造成, 也称为开关噪声。噪声脉冲串的频率比开关频率高得多, 噪声电压是其峰峰值。 噪声电压的振幅很大程度上与开关电源的拓扑、电路中的寄生状态及 PCB的设计有关。

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  • PCIE2.0 3.0 验证,调试和一到性测试解决方案

    PCIE2.0 3.0 验证,调试和一到性测试解决方案 SI信号完整性测试,主要内容是电源上电时序、复位、时钟、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口测试、URAT测试、网口测试、USB2.0/USB3.0测试、MIPI测试、HDMI测试、及板卡上其它芯片接口的信号测试。

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  • 如何进行PCI-Express 的一致性测试和分析

    如何进行PCI-Express 的一致性测试和分析 SI信号完整性测试,主要内容是电源上电时序、复位、时钟、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口测试、URAT测试、网口测试、USB2.0/USB3.0测试、MIPI测试、HDMI测试、及板卡上其它芯片接口的信号测试。

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  • PCIE2.0 3.0 验证 调试和一致性测试解决方案

    遇到的问题$r$nPCIE link不稳定$r$n配置空间读写正常,Memory mapping空间读写异常

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  • PCIE2.0 3.0 物理层一致性测试

    CIE2.0 3.0 物理层致性测试$r$n$r$nPCIe总线$r$n与PCI总线不同,PCIe总线使用端到端的连接方式,在条PCIe链路的两端只能各连接个设备,这两个设备互为是数据发送端和数据接收端。PCIe链路可以由多条Lane组成,目PCIe链路×1、×2、×4、×8、×16和×32宽度的PCIe链路,还有几乎不使用的×12链路。

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  • PCIE2.0 3.0 TX 发送 物理层一致性测试

    PCIe总线的层次组成结构与网络中的层次结构有类似之处,但是PCIe总线的各个层次都是使用硬件逻辑实现的。在PCIe体系结构中,数据报文先在设备的核心层(Device Core)中产生,然后再经过该设备的事务层(TransactionLayer)、数据链路层(Data Link Layer)和物理层(Physical Layer),终发送出去。

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  • PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理层一致性测试

    PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理层致性测试$r$n当PCIe设备进入休眠状态,主电源已经停止供电时,PCIe设备使用该信号向处理器系统提交唤醒请求,使处理器系统重新为该PCIe设备提供主电源Vcc。

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  • PCIE Gen2/Gen3/Gen4 发送端 信号质量一致性测试

    PCIE 初始化完成后会进入L0状态。异常状态见PCIE link 异常log。$r$n物理层link 不稳定,怀疑以下原因:$r$n- 高速串行信号质量问题$r$n- Serdes电源问题$r$n- 时钟问题

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  • PCIE2.0 3.0 4.0 硬件测试解决方案

    PCIE2.0 3.0 4.0 硬件测试解决方案$r$nPCIE memap空间读写异常$r$n问题:$r$npcie可以正常读写配置空间,但无法正常读写memap 空间

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  • 高速信号PCI-Express信号完整性测试与问题故障分析

    高速信号PCI-Express信号完整性测试与问题故障分析$r$n我们以写PCIE EP的memap空间为例子说明下地址之间的转换是怎么做的。

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  • pcie2.0x4 眼图测试 物理层一致性测试

    pcie2.0x4 眼图测试 物理层致性测试$r$n集成电路的发明是人类历史上的大创举,它大地推动了人类的现代文明进程,在天无时无刻不在影响着我们的生活。进入 21 世纪以来,集成电路的发展则更是狂飙猛进。天的大规模集成电路生产和制造工艺已经达到 10 nm 量产水平,更高的集成度意味着同等体积下提供了更高的性能,当然对业内从业者来说遇到的挑战和问题也就越来越严峻。

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  • pcie2.0x8 眼图测试 物理层一致性测试

    pcie2.0x8 眼图测试 物理层致性测试$r$n在个处理器系统中,般提供×16的PCIe插槽,并使用PETp0~15、PETn0~15和PERp0~15、PERn0~15共64根信号线组成32对差分信号,其中16对PETxx信号用于发送链路,另外16对PERxx信号用于接收链路。除此之外PCIe总线还使用了下列辅助信号。

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  • pcie2.0x16 眼图测试 物理层一致性测试

    pcie2.0x16 眼图测试 物理层致性测试$r$n传统的源同步时钟总线系统般多采用并行单端信号,典型幅度在从 TTL-5V,CMOS- 3.3V/1.8V 左右。在设计和测试上遇到的信号完整性问题主要是反射和串扰,经常强调如何有效利用示波器的触发功能进行定位和捕获并分析,对示波器的波形捕获率及毛刺触发和建立/保持触发等能力均有很高要求。

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  • Pcie1.0x4 眼图测试 物理层一致性测试

    Pcie1.0x4 眼图测试 物理层致性测试$r$n日益降低的信号幅度必将带来信噪比(SNR)的挑战,也即随着信号幅度越来越低,对整个 电路系统的噪声要求也越来越严格。尤其是在近 3 年来越来越热的PAM 调制,比如广泛用于 200G/400G 传输的 PAM-4 技术,由于采用 4 电平调制,其对信噪比的要求比采用NRZ 编码的信噪比要高 9dB.

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  • Pcie1.0x8 眼图测试 物理层一致性测试

    Pcie1.0x8 眼图测试 物理层致性测试$r$n$r$nCI总线定义了两类配置请求,个是Type00h配置请求,另个是Type 01h配置请求。

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