全新的硅漂移探测器（SDD）设计能提高分析镉和铅等RoHS物质的准确度和速度。新优化的x射线照射方法可提高分析不平坦和不规则表面的可重现性。此外，高性能探测器能提高计数率，增加探测痕量元素的精密度，并且实现测量较轻元素的能力。为了确保高生产率，将黄铜中镉的筛查（通常是XRF RoHS筛查中具有挑战性的一项）功能设计成比传统型号速度更快，从而大幅提高通量。

该软件的一项内置功能可直观标记超出预设浓度限制的预定义元素。使用精密度控制软件的EA1400一旦达到预定义参数将自动停止分析。可在预定义测量时间之前确定合格/失败情况，由此可增加测量多件样本的通量，从而节省时间且不会影响质量计划。

除了RoHS筛查，EA1400也能够辨别矿渣（硅、钙、铝和镁）、聚合物、矿物、化学品和其他材料中的主要成分。

日立分析仪器产品经理Ashley-Kate McCann表示：“客户需要我们帮助其缩短测量每件样品的时间、简化测量结果管理、减少操作失误、提高效率。EA1400在满足此类客户需求的同时还能实现更高的检出限，且可为当前和未来不断变化的RoHS和其他限制物质指令提供一种筛查工具。”

日立分析仪器简介：

日立分析仪器是日立技术集团旗下的一家全球性公司。该公司总部位于英国牛津，其在芬兰、德国和中国有研发和组装业务，在全球多个国家有销售和支持业务。我们的产品范围包括：

• 专业ROHS分析仪：EA1000AIII、EA6000VX和HM1000A分析仪专用于分析限制有害物质，使用简单快捷，可根据不断变化的法规对其进行灵活调整。 

• 手持式分析仪：数以千计的企业使用X-MET8000的精密XRF技术为合金分析、废金属分拣和金属牌号筛查提供简单、快速、无损的分析。Vulcan由LIBS激光技术驱动，可在一秒钟内识别金属合金；非常有利于企业处理大量金属，是世界上速度很快的分析仪。

• Microspot XRF镀层分析仪：FT160、FT110A和X-Strata可测量单层和多层镀层（包括合金层）的镀层厚度，适用于质量控制或过程控制程序以及研究实验室。

• 多功能台式XRF光谱仪：Lab-X5000和X-Supreme8000为石油、木材处理、水泥、矿物、采矿和塑料等多个行业提供高度可靠的质量保证和过程控制。

• OES金属分析仪：OE750、PMI-MASTER、FOUNDARY-MASTER和TEST-MASTER系列直读光谱仪可用于全球诸多行业的高精密度金属分析。 

• 热分析：DSC7000X、DSC7020、NEW STA、TMA7100、TMA7300和DMA7100热分析系列经过优化后坚固耐用、高度可靠且易于使用，可探测和观察比较小的反应。

• 锂离子电池分析：EA8000A x射线粒子污染物分析仪专用于锂离子电池生产中快速有效的质量控制。