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EA1000AIII X射线荧光光谱仪
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日立分析仪器(上海)有限公司
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详细内容
EA1000AIIIX射线荧光光谱仪规格参数:
型号:EA1000AIII
测量元素:原子序数13(Al)~92(U)
样品形态:固体、粉末、液体
射线源:X射线管球(Rh靶材)
管电压:zui大50kV 管电流:zui大1000μA
检测器:Si半导体检测器
分析领域:Φ1mm,Φ3mm,Φ5mm (自动切换)
样品观察:彩色CCD摄像头
滤波器:5种模式自动切换
样品室:370(W) ×320(D) ×120(H)mm
定性分析:能谱测量、自动辨别、KLM标示表示、差异表示
定量分析:块体校准曲线、块体FP法
有害物质测量功能:环境管制物质测量软件Ver.2、Dbeasy
材料辨识、分析线切换、波峰分离显示功能、波峰标记功能等
数据处理:配备EXCEL、配备WORD
外形尺寸:520(W)×600(D)×445(H)mm
安装尺寸:1500(W)×1000(D)
重量:约60kg
使用电源(主机):AC100~240V±10%单相
选购项:自动进样器、能谱匹配软件、薄膜FP软件、各种标准物质
EA1000AIIIX射线荧光光谱仪特长:
1.通过快速测狼提高测量效率
与以往机型相比,每个树脂与金属样品的测量时间*均大幅缩短。每天的处理量实现跨越式增长。
*包涵统计误差(3σ)达到Cd 20 mg/kg、Pb、Hg、Br、Cr 100mg/kg以下所需的切换时间。
2.材料辨识功能
测量开始后,可在短时间内(25秒以下)识别待测样品的材质。材料大体分为树脂(PE、PVC)、AI合金、Fe合金、Cu合金、Sn合金等。即使不清楚样品的材质,也无需为如何选择分析方法而困惑。
●材料辨识测量模式
识别待测样品的材料类型,自动选择推荐的分析方法
●材料辨识自动测量模式
识别待测样品的材料类型后,自动选择适合的分析方法进行测量,并显示结果。所有步骤实现全自动处理。
3.分析线切换功能
本功能是由仪器判断所含元素与波峰的重叠情况,并自动选择统计误差较小的分析线。可以更加有效地管理精度、提高测量效率。
4.大型样品室与自动进样器(选购项)
日立X射线荧光分析仪EA1000AIII的大容量样品室可轻松测量大型样品。自动进样器zui多可连续测量12个样品,可轻易将微小的样品置于正确的测量位置上。
环境限制物质测量软件Ver.2
●通过精度管理软件优化测量时间(Ver.1已有功能)
●利用数据库对各网点的测量数据进行集中管理(搜索、游览、分析、编辑、打印、制作报告)
●对于之前曾经测过的同一样品,可比较两次的测量结果
●除了RoHS分析、卤素分析、玩具分析、Sb、Sn分析之外,还可自由添加需要管理的元素
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