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OCS201C,OCS202C,OCS203C,OCS205C,OCS207C美Thorlabs傅立叶红外光谱仪
美Thorlabs傅立叶红外光谱仪 OCS201C,OCS202C,OCS203C,OCS205C,OCS207C
价 格:¥电议型 号:OCS201C,OCS202C,OCS203C,OCS205C,OCS207C产 地:美洲
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HypotMAX 7710美Associated 耐压测试仪
美Associated 耐压测试仪HypotMAX 7710 ,是一款12 kVDC Hipot测试仪,用于为电缆、电线、线束和电气元件测试提供高直流输出电压。该产品非常易于使用,并为安全有效的测试提供了各种特性。它有专利SmartGFI®操作,它还包括电荷LO®和斜坡嗨®系统。最后,该系统具有远程安全联锁和数控电弧检测系统。
价 格:¥电议型 号:HypotMAX 7710产 地:美洲
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100S德国KRUSS标准型DSA25接触角测量仪
德国KRUSS标准型DSA25接触角测量仪,接触角测量范围:0-180,接触角测量精度:±0.10,表界面张力测量范围:0-1000mN/m;测量精度:0.01 mN/m
价 格:¥电议型 号:100S产 地:欧洲
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100S接触角测量仪
100S接触角测量仪是采用光学成像的原理,通过图像轮廓分析方式测量样品表面接触角、润湿性能、表界面张力、表面能等性能,设备性价比高、功能全面、可满足各种常规测量需要。
价 格:¥电议型 号:100S产 地:中国大陆
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JY—PHa接触角测定仪
JY—PHa接触角测定仪,用于液体对固体的浸润性,通过测量液体对固体的接触角、计算、测定液体对固体的附着力,张力及固体表面能等指标。
价 格:¥电议型 号:JY—PHa产 地:中国大陆
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Zip 250美国OGP光学式坐标测量仪
美国OGP光学式坐标测量仪 Zip 250 ,5:1 AccuCentric 电动变焦透镜,在每次放大变倍时自动校准,可选配接触式探头、激光和微型探针。
价 格:¥电议型 号:Zip 250产 地:美洲
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ALD德国Sentech 实时监测仪
SENTECH ALD实时监测仪是一种新型的光学诊断工具,是心灵超高分辨率的单一ALD循环。在不破坏真空的条件下分析薄膜特性(生长速率,厚度,折射率),在短时间内开发新工艺、实时研究ALD循环中的反应机理是SENTECH ALD实时监测仪的主要应用。
价 格:¥电议型 号:ALD产 地:欧洲
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ContoruGT德Bruker光学轮廓仪
德Bruker光学轮廓仪ContoruGT-表面量测系统-供生产QC/QA及研发研用的非接解触型光学轮廓仪
价 格:¥电议型 号:ContoruGT产 地:欧洲
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ALPHA II德国Bruker FTIR 傅立叶变换近红外光谱仪
德国Bruker ALPHA II FTIR 傅立叶变换近红外光谱仪,ALPHA II 代表了非常成功的ALPHA光谱仪的增强后续模型。由于技术创新,例如光源和探测器的先进稳定性,它提供了一些改进,如更高的灵敏度,更高的光谱分辨率,更宽的光谱范围以及更强的抗环境温度变化的稳健性。
价 格:¥电议型 号:ALPHA II产 地:欧洲
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Tango,MPA,Matrix-I德国Bruker FT-NIR光谱仪
德国Bruker FT-NIR光谱仪Tango,MPA,Matrix-I.FT-NIR光谱仪已经在包括制药,食品,农业和化学行业在内的所有行业的质量控制应用中得到了很好的应用。它为耗时的湿法化学方法和色谱技术提供了一种实用的替代方法。FT-NIR无破坏性,不需要样品制备或危险化学品,使其定量和定性分析快速可靠。
价 格:¥电议型 号:Tango,MPA,Matrix-I产 地:欧洲
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ECHO-VS, ECHO Pro美国 SONIX 超声波扫描显微镜
美国 SONIX 超声波扫描显微镜:ECHO-VS, ECHO Pro™全自动超声波扫瞄显微镜,SONIX ECHO VS™ 是专为更高精度要求,更复杂元器件设计的新一代设备。ECHO Pro™全自动超声波扫瞄显微镜,编程自动判别缺陷,高产量,无需人员重复设置.
价 格:¥电议型 号:ECHO-VS, ECHO Pro产 地:中国大陆
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F20,F30,F40,F50,F60,F3-XXT美国Filmetrics 薄膜厚度测量系统
美国Filmetrics 薄膜厚度测量系统F20,F30,F40,F50,F60,F3-XXT 系列,台式薄膜厚度测量系统
价 格:¥电议型 号:F20,F30,F40,F50,F60,F3-XXT产 地:美洲
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SV-1A日本A&D粒子计数器(粒度计)
日本A&D粒子计数器(粒度计)SV-1A,是使用点监测的低成本替代设备,计数值高达2,000,000个粒子/ft.
价 格:¥电议型 号:SV-1A产 地:日本
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3D Nanofinger德国Klocke Nanotech 3D纳米级三维测量仪
德国Klocke Nanotech纳米级三维测量仪3D Nanofinger,是一种实用的纳米精度坐标和形貌综合测量设备。由台架、控制系统、探头、针尖组成. 可测量样品外形尺寸,表面轮廓、粗糙度等,并可与超精密微加工、微组装系统组合,进行在线检测、质量控制等。
价 格:¥电议型 号:3D Nanofinger产 地:欧洲
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MT Century Curve Tracer美国RTI自动特性图示仪
美国RTI自动特性图示仪 MT Century Curve Tracer,是一个性价比较高的曲线追踪设备。最多到96个channel,提供4种型号可供客戶选择,MT Century Curve Tracer 与RTI其他大型curve trace拥有一样的可靠性,功率和软件。像其他RTI机型一样,MT Century系統的设计有与950系列的测试夾具及其它专用夾具连接的接口。
价 格:¥电议型 号:MT Century Curve Tracer产 地:美洲
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HT-RTA59HD,CAS-59AQ日本Advance Riko 超高温高速退火炉
日本Advance Riko 超高温高速退火炉:$r$n。桌面式:HT-RTA59HD$r$n。带水淬:CAS-59AQ
价 格:¥电议型 号:HT-RTA59HD,CAS-59AQ产 地:日本