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光刻机&3D打印机
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- 德国Heidelberg
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- 德国Eulitha
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- 瑞典Mycronic
- 英国Durham
- 英国Nanobean
- NanoArch
- 德国SUSS
- 德国ParcanNano 百及纳米针尖电子束光刻系统
- 英国AML晶圆键合机
- 瑞士 NnaoFrazor 光刻机
- 激光微加工设备
- 奥地利EVG紫外纳米压印系统
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- Elinoix 电子束光刻机
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镀膜沉积机
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离子刻蚀与沉积
匀胶涂覆机
半导体辅助设备
半导体微纳检测仪器
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- 美国Nanovea三维表面形貌仪
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- 德国Klocke Nanotech 3D纳米级三维测量仪
- 德国YXLON 高分辨率Ｘ射线检测设备
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- 日本Ribm原子力显微镜
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- 美Royce拉力性能测试及芯片拾取放置
- 美国Filmetrics膜厚测量仪
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- 美国TEX Keithley半导体参数分析仪
- 美国MMR霍尔效应测量仪
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实验检测仪器
- 电子元器件水份分析仪
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- nanosc 高精度铁磁共振仪
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- 振动样品磁强计
- 超精细多功能无液氦低温光学恒温器
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- Neaspec 德国真空太赫兹近场光学显微镜
- 纽迈核磁共振分业析
- Oxford pulsar 实验室智能核磁共振波谱仪
- DynaCool 全新一代完全无液氦综合物性测量系统
- Anasazi 科研用小型无液氦核磁共振波谱仪
- MPMS3最新一代磁学测量系统
- PPMS 综合物性测量系统
紫外清洗等离子清洗机
- 美Harrich 等离子清洗机
- 德Diener 等离子清洗机
- 德PVA Tepla 微波等离子清洗机
- 美Nano-master 晶圆清洗机
- 美国Novascon UV清洗机
- 美国UVOCS UV清洗机
- 美国Jelight UV清洗机
- 日本SEN 紫外UV清洗机UV灯
- 美国Uvitron全功能紫外面光源
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太阳能检测仪
德国YXLON 检测仪
德国Netzsch
Rion 液体光学颗粒度仪
液体光学颗粒度仪
奥地利EVG光刻杨键合机压印机
尼康Nikon光刻机
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日本Elionix
化学开封机 / 激光开封机
光刻胶/硅片
半导体辅助工艺/光刻胶
日立Hitachi
UV灯
已选条件
产品分类
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ALD德国Sentech 实时监测仪
SENTECH ALD实时监测仪是一种新型的光学诊断工具，是心灵超高分辨率的单一ALD循环。在不破坏真空的条件下分析薄膜特性(生长速率，厚度，折射率)，在短时间内开发新工艺、实时研究ALD循环中的反应机理是SENTECH ALD实时监测仪的主要应用。
价 格：￥电议型 号：ALD产 地：欧洲
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ContoruGT德Bruker光学轮廓仪
德Bruker光学轮廓仪ContoruGT-表面量测系统-供生产QC/QA及研发研用的非接解触型光学轮廓仪
价 格：￥电议型 号：ContoruGT产 地：欧洲
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ALPHA II德国Bruker FTIR 傅立叶变换近红外光谱仪
德国Bruker ALPHA II FTIR 傅立叶变换近红外光谱仪，ALPHA II 代表了非常成功的ALPHA光谱仪的增强后续模型。由于技术创新，例如光源和探测器的先进稳定性，它提供了一些改进，如更高的灵敏度，更高的光谱分辨率，更宽的光谱范围以及更强的抗环境温度变化的稳健性。
价 格：￥电议型 号：ALPHA II产 地：欧洲
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Tango,MPA,Matrix-I德国Bruker FT-NIR光谱仪
德国Bruker FT-NIR光谱仪Tango,MPA,Matrix-I.FT-NIR光谱仪已经在包括制药，食品，农业和化学行业在内的所有行业的质量控制应用中得到了很好的应用。它为耗时的湿法化学方法和色谱技术提供了一种实用的替代方法。FT-NIR无破坏性，不需要样品制备或危险化学品，使其定量和定性分析快速可靠。
价 格：￥电议型 号：Tango,MPA,Matrix-I产 地：欧洲
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ECHO-VS, ECHO Pro美国 SONIX 超声波扫描显微镜
美国 SONIX 超声波扫描显微镜:ECHO-VS, ECHO Pro™全自动超声波扫瞄显微镜,SONIX ECHO VS™ 是专为更高精度要求，更复杂元器件设计的新一代设备。ECHO Pro™全自动超声波扫瞄显微镜,编程自动判别缺陷,高产量,无需人员重复设置.
价 格：￥电议型 号：ECHO-VS, ECHO Pro产 地：中国大陆
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F20，F30，F40，F50，F60，F3-XXT美国Filmetrics 薄膜厚度测量系统
美国Filmetrics 薄膜厚度测量系统F20，F30，F40，F50，F60，F3-XXT 系列，台式薄膜厚度测量系统
价 格：￥电议型 号：F20，F30，F40，F50，F60，F3-XXT产 地：美洲
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SV-1A日本A&D粒子计数器（粒度计）
日本A&D粒子计数器（粒度计）SV-1A,是使用点监测的低成本替代设备,计数值高达2,000,000个粒子/ft.
价 格：￥电议型 号：SV-1A产 地：日本
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3D Nanofinger德国Klocke Nanotech 3D纳米级三维测量仪
德国Klocke Nanotech纳米级三维测量仪3D Nanofinger，是一种实用的纳米精度坐标和形貌综合测量设备。由台架、控制系统、探头、针尖组成. 可测量样品外形尺寸，表面轮廓、粗糙度等，并可与超精密微加工、微组装系统组合，进行在线检测、质量控制等。
价 格：￥电议型 号：3D Nanofinger产 地：欧洲
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MT Century Curve Tracer美国RTI自动特性图示仪
美国RTI自动特性图示仪 MT Century Curve Tracer，是一个性价比较高的曲线追踪设备。最多到96个channel，提供4种型号可供客戶选择，MT Century Curve Tracer 与RTI其他大型curve trace拥有一样的可靠性，功率和软件。像其他RTI机型一样，MT Century系統的设计有与950系列的测试夾具及其它专用夾具连接的接口。
价 格：￥电议型 号：MT Century Curve Tracer产 地：美洲
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DE35-ST美国Royec半自动型芯片拾取系统
美国Royec半自动型芯片拾取系统DE35-ST ,最小200微米芯片拾取,可选配背面，侧面检测,可选配芯片转向功能.
价 格：￥电议型 号：DE35-ST产 地：美洲
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Die Pick & Place Systems美国Royec芯片拾取及放置系统
美国Royec芯片拾取及放置系统Die Pick & Place Systems,NEW !! AP+ 全自动芯片分选系统
价 格：￥电议型 号：Die Pick & Place Systems产 地：美洲
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Y.Cougar SMT， Y.Cheetah德国YXLON 高分辨率Ｘ射线检测设备
德国 YXLON 高分辨率Ｘ射线检测设备$r$n Y.Cougar SMT 平板探测器（标配）$r$n Y.Cheetah 高速平板探测器（标配）
价 格：￥电议型 号：Y.Cougar SMT， Y.Cheetah产 地：欧洲
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HS1000美国NANOVEA三维表面形貌仪
美国NANOVEA三维表面形貌仪HS1000型，是一款高速的三维形貌仪，最高扫描速度可达1m/s,采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器可用于测量大尺寸样品或质检现场使用。
价 格：￥电议型 号：HS1000产 地：美洲
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SCALA德国Mecwins 扫描式激光分析仪
德国Mecwins 扫描式激光分析仪SCALA，它是用激光入射扫描样品表面，收集反射信号得到样品表面的三维形貌和特征。
价 格：￥电议型 号：SCALA产 地：欧洲
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KUP007，EMP100C，EMP100B，EMP50S半导体测试探针台
半导体测试探针台KUP007，EMP100C，EMP100B，EMP50S
价 格：￥电议型 号：KUP007，EMP100C，EMP100B，EMP50S产 地：其它
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H5000美国 MMR 霍尔效应测量系统
美国 MMR 霍尔效应测量系统 H5000，用于研究光电材料的电学特性，利用范德堡测量技术测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。整套系统主要包括控制器、样品室、磁场三部分。
价 格：￥电议型 号：H5000产 地：美洲
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HMS3000，HMS5000韩国Ecopia霍尔效应测量系统
韩国Ecopia霍尔效应测量系统HMS3000，HMS5000，用于研究半导体材料/光电材料的电学特性，可以测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。$r$n
价 格：￥电议型 号：HMS3000，HMS5000产 地：其它
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CoreAFM瑞士Nanosurf 原子力显微镜
瑞士Nanosurf 原子力显微镜CoreAFM ，非常智能地联合了原子力显微镜的核心部件来实现最多功能化与用户方便使用性. 正是由于这种基础的设计, CoreAFM非常合理的实现了最优化的原子力显微镜的功能.
价 格：￥电议型 号：CoreAFM产 地：美洲
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4200A-SCS美国泰克TEK Keithley半导体参数分析仪
美国泰克TEK Keithley半导体参数分析仪4200A-SCS ，加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。 业内领先性能参数分析仪，提供同步电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 和超快脉冲 I-V 测量。
价 格：￥电议型 号：4200A-SCS产 地：美洲
