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光刻机&3D打印机
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- 德国ParcanNano 百及纳米针尖电子束光刻系统
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离子刻蚀与沉积
匀胶涂覆机
半导体辅助设备
半导体微纳检测仪器
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- 美国Filmetrics膜厚测量仪
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- 美国MMR霍尔效应测量仪
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实验检测仪器
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- 振动样品磁强计
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- Anasazi 科研用小型无液氦核磁共振波谱仪
- MPMS3最新一代磁学测量系统
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紫外清洗等离子清洗机
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- 美国UVOCS UV清洗机
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太阳能检测仪
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德国Netzsch
Rion 液体光学颗粒度仪
液体光学颗粒度仪
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尼康Nikon光刻机
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日本Elionix
化学开封机 / 激光开封机
光刻胶/硅片
半导体辅助工艺/光刻胶
日立Hitachi
UV灯
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产品分类
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SpectraRay/4光谱椭偏测量/分析软件
SpectraRay/4:光谱椭偏测量/分析软件，SENDURO®全自动光谱椭偏仪包括基于测量处方的仅在几秒钟内即可完成的快速数据分析。椭圆仪的设计是为了便于操作：放置样品，自动样品对准，自动测量和分析结果。在全自动模式下使用光谱椭偏仪非常适合于质量控制和研发中的常规应用。
价 格：￥电议型 号：SpectraRay/4产 地：欧洲
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SENDURO全自动光谱椭偏仪
SENDURO 全自动光谱椭偏仪,包括基于测量处方的仅在几秒钟内即可完成的快速数据分析。椭圆仪的设计是为了便于操作：放置样品，自动样品对准，自动测量和分析结果。在全自动模式下使用光谱椭偏仪非常适合于质量控制和研发中的常规应用。
价 格：￥电议型 号：SENDURO产 地：欧洲
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SENDIRA红外光谱椭偏仪
SENDIRA红外光谱椭偏仪,振动光谱的特点是傅立叶红外光谱仪FTIR。测量红外分子振动模的吸收谱带，分析长分子链的走向和薄膜的组成。红外光谱椭偏仪适用于测量导电膜的电荷载流子浓度。
价 格：￥电议型 号：SENDIRA产 地：欧洲
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SENpro光谱椭偏仪
德国 Sentech 低成本高效益的光谱椭偏仪SENpro,SENpro椭偏仪是椭偏仪应用的智能解决方案。它具有角度计，入射角度步进值5°。操作简单，快速测量和直观的数据分析相结合，以低成本效益高的设计来测量单层和多层膜的厚度和光学常数。
价 格：￥电议型 号：SENpro产 地：欧洲
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SENresearch 4.0拥有宽光谱范围的光谱椭偏仪
Nano-master 离子束刻蚀溅射镀膜一体机 NSENresearch 4.0:拥有宽光谱范围的光谱椭偏仪
价 格：￥电议型 号：SENresearch 4.0产 地：欧洲
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HS-AFM日本RIBM 超高速视频级原子力显微镜
日本RIBM HS-AFM超高速视频级原子力显微镜，突破了 “扫描成像速慢”的限制，扫描速度最高可达 20 frame/s，并且有 4 种扫描台可供选择。样品无需特殊固定染色，不影响生物分子的活性，尤其适用于生物大分子互作动态观测。液体环境下直接检测，超快速动态成像，分辨率为纳米水平。
价 格：￥电议型 号：HS-AFM产 地：日本
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JEM-1400Flash透射电子显微镜
JEM-1400Flash 配备了高灵敏度sCMOS相机、超广视野的蒙太奇系统以及光学显微镜图像的联动功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射电子显微镜。$r$n
价 格：￥电议型 号：JEM-1400Flash产 地：日本
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JEM-Z200FSC场发射冷冻电子显微镜
场发射冷冻电子显微镜 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200标配冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器（Ω能量过滤器）、液氮冷却样品台和12位自动样品更换系统。新设计的Ω能量过滤器与无孔位相板的完美组合，进一步提高了生物样品的衬度。$r$n$r$n
价 格：￥电议型 号：JEM-Z200FSC产 地：日本
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JEM-Z300FSC场发射冷冻电子显微镜
JEM-Z300FSC 场发射冷冻电子显微镜，配备了冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)、侧插式液氮冷却样品台和自动样品交换系统，能够在冷冻低温下观察生物大分子。样品交换系统内多可以存储12个样品，可以任意取出和交换一个或数个样品，能灵活地进行测试排序。
价 格：￥电议型 号：JEM-Z300FSC产 地：日本
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JEM-ARM200F NEOARM原子分辨率透射电子显微镜
JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨率透射电子显微镜，标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪（Cold-FEG）和全新的高阶球差校正器（ASCOR）。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下，均能实现原子分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统，可以自动进行快速准确的像差校正。
价 格：￥电议型 号：JEM-ARM200F NEOARM产 地：日本
