半导体微纳检测仪器(第6页)_深圳市蓝星宇电子科技有限公司

V-duo德国KSI 双探头超声波扫描显微镜系统

KSI V-duo 双探头超声波扫描显微镜系统，同时使用2只换能器$r$n$r$n

价格：￥电议型号：V-duo产地：欧洲
Nano型KSI高分辨率表层缺陷超声波扫描显微镜系统

KSI－Nano型高分辨率表层缺陷超声波扫描显微镜系统$r$n声学显微成像系统和光学显微成像系统的完美结合$r$n

价格：￥电议型号：Nano型产地：欧洲
i-IngotKSI 型全自动晶锭分析检测系统

KSI i-Ingot型全自动晶锭分析检测系统,适用于对晶锭的无损检测，有了它，晶锭内部的裂缝或杂质就能得到快速检测，晶锭的尺寸可达450mm，检测时间短，也不需要做其它设定。

价格：￥电议型号：i-Ingot产地：欧洲
i-Wafer德国KSI 型全自动晶圆超声波缺陷检测系统

德国KSI i-Wafer型全自动晶圆超声波缺陷检测系统，在KSI i-Wafer的探测下，晶圆中的孔隙、分层或者杂质都能被发现。尺寸在450mm的多种晶圆也能进行检测

价格：￥电议型号：i-Wafer产地：欧洲
RTMALD实时监测仪

$r$nSENTECH ALD实时监测仪是一种新型的光学诊断工具，是心灵超高分辨率的单一ALD循环。在不破坏真空的条件下分析薄膜特性(生长速率，厚度，折射率)，在短时间内开发新工艺、实时研究ALD循环中的反应机理是SENTECH ALD实时监测仪的主要应用。$r$n $r$n

价格：￥电议型号：RTM产地：欧洲
SE 800 PV激光椭偏仪

$r$nSE 800 PV 激光椭偏仪$r$n $r$nSENTECH设计了SE 800 PV，用于表征由SiNx/SiO2、SiNx/SiNy或SiNx/Al2O3组成的多层钝化膜和防反射涂层。分析了单晶和多晶硅太阳电池的折射率指数、吸收和膜厚。在配方模式下进行复杂的测量，速度快，操作容易。

价格：￥电议型号：SE 800 PV产地：欧洲
SE 400adv PV激光椭偏仪

$r$n激光椭偏仪SE 400adv PV$r$n $r$nSE 400adv PV是全球化使用的标准仪器，用于测量PV单层防反射涂层的厚度和折射率指数。特别用于表征单晶和多晶硅太阳能电池上的SiNx 防反射单层膜的性能。该仪器用于SiNx涂层和薄钝化层SiO2和Al2O3的质量控制。$r$n

价格：￥电议型号：SE 400adv PV产地：欧洲
RT Inline薄膜反射和透射的在线监测系统

$r$n薄膜反射和透射的在线监测系统 RT Inline$r$n $r$n反射率、透射率和膜厚的高速在线测量是RT Inline的设计特点。传感器头阵列扫描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射，作为内部参考测量。利用FTPadv Expert软件可以方便地进行层沉积过程的在线监测。软件接口可用于与主机的数据通信。$r$n

价格：￥电议型号：RT Inline产地：欧洲
MDPspot德国Sentech光伏测量仪器

$r$n德国Sentech光伏测量仪器MDPspot，具有成本效益的台式少子寿命测试仪MDPspot可用于表征晶片或面。它为少子寿命测量提供了一个测量点。$r$n $r$n低成本桌面式寿命测量系统，用于手动操作表征不同制备阶段的各种不同硅样品。可选的手动操作Z轴用于厚度多达156毫米的样品。标准软件可输出可视化的测量结果。$r$n $r$n

价格：￥电议型号：MDPspot产地：欧洲
SENperc PV德国Sentech光伏测量仪

SENperc PV 是PERC电池制造质量控制的创新解决方案。SENperc PV 测量Al2O3/SiNx堆叠层和用于钝化PERC电池的单层膜。监测沉积过程的稳定性。由此，可以优化维护时间间隔。$r$n

价格：￥电议型号：SENperc PV产地：欧洲
SenSol自动扫描薄膜测量仪器

$r$nSenSol是SENTECH光伏产品组合中的自动大面积扫描仪器。自动表征膜厚、薄层电阻、雾度、反射和透射的均匀性。使用SenSol，可以监测大型玻璃基板上的沉积过程的均匀性，从而可以显著减少仪器维护后重新开始生产的时间。$r$n

价格：￥电议型号：SenSol产地：欧洲
MDPpro德国Sentech激动扫描系统

$r$n德国Sentech激动扫描系统MDPpro,少子寿命测量仪器的特征在于以1mm分辨率对500mm的一个面在不到4分钟内完成扫描。电阻率和少子寿命的测量完全无触摸。利用微波检测光电导率(MDP)同时测量少子寿命、光电导率、电阻率和p/n导电类型的变化。$r$n

价格：￥电议型号：MDPpro产地：欧洲
MDPinlinescan在线寿命和电阻率逐行扫描仪

$r$nMDPinline ingot 光伏测量仪器，多晶形貌少子寿命测量系统是为高产量生产用户而设计的。对于一个面，以1毫米的分辨率，无接触、无破坏地测量电阻率和少子寿命花费不到一分钟。电阻率和导电类型变化的自动扫描可用于质量控制和监测炉子性能。面可以自动转动，以便测量所有的四个侧面。

价格：￥电议型号：MDPinlinescan产地：欧洲
MDPinline ingot光伏测量仪器

$r$nMDPinline ingot 光伏测量仪器，多晶形貌少子寿命测量系统是为高产量生产用户而设计的。对于一个面，以1毫米的分辨率，无接触、无破坏地测量电阻率和少子寿命花费不到一分钟。电阻率和导电类型变化的自动扫描可用于质量控制和监测炉子性能。面可以自动转动，以便测量所有的四个侧面。

价格：￥电议型号：MDPinline ingot产地：欧洲
MDPinline光伏测量仪器

MDPinline 光伏测量仪器，一秒内完成正片晶片扫描。MDPinline是为高速自动扫描硅晶片而设计的，它以每片不到一秒的时间记录少子寿命的全部形貌。利用微波检测光电导率定量测量少子寿命。凭借其紧凑的设计，MDPinline可以灵活地集成在传送带上或晶片分选系统中。

价格：￥电议型号：MDPinline产地：欧洲
FTPadv Expert综合薄膜测量软件

FTPadv Expert 综合薄膜测量软件，光谱反射测量软件FTPadv Expert是专门为测量和分析R(λ)和T(λ)而设计的。用于确定各种材料的薄膜厚度、消光系数或折射率的光谱数据分析，这些参数都被加载到SENTECH光谱反射测量软件中，使得能够根据Cauchy色散、Drude振荡给出的参数描述和拟合材料。

价格：￥电议型号：FTPadv Expert产地：欧洲
FTPadv台式薄膜探针反射仪

FTPadv 台式薄膜探针反射仪$r$n台式薄膜探针反射仪FTPadv，FTPadv是一种具有成本效益的台式反射膜厚仪解决方案，它具有非常快速的厚度测量。在100毫秒以内进行测量，其精度低于0.3nm，膜厚范围在50 nm -25 μm。为了便于分光反射测量操作，该仪器包括了范围广泛的预定配方。

价格：￥电议型号：FTPadv产地：欧洲
RM 1000和RM 2000反射膜厚仪

$r$n反射膜厚仪RM 1000和RM 2000$r$n反射膜厚仪RM 1000和RM 2000，反射膜厚仪RM 1000/2000具有200nm-930nm的紫外-近红外光谱范围。光学布局为光吞吐量优化，以便即使在粗糙或曲面上也能可靠地测量n和k。精确的高度和倾斜特别适用于精确的单光束反射率测量，且测量非常稳定。以激光椭偏仪的亚埃精度将可测量的厚度范围扩展到25埃米，从而明确地确定厚度。

价格：￥电议型号：RM 1000和RM 2000产地：欧洲
SE 500adv激光椭偏仪

$r$nSE 500adv 激光椭偏仪$r$n激光椭偏仪SE 500adv，椭偏仪SE 500adv将激光椭偏仪和反射仪结合在一个系统中。这种组合允许零度反射法用于快速薄膜分析，并且允许透明膜以激光椭偏仪的亚埃精度将可测量的厚度范围扩展到25埃米，从而明确地确定厚度。

价格：￥电议型号：SE 500adv产地：欧洲
SE 400adv激光椭偏仪

$r$n激光椭偏仪 SE 400adv，激光椭偏仪SE 400adv测量透明薄膜的厚度和折射率指数，具有测量速度、亚埃级别的厚度精度和折射率测定的精度。多角度测量允许使用激光椭偏仪SE 400adv表征吸收膜特征。

价格：￥电议型号：SE 400adv产地：欧洲

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