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ParanNano百及纳米原子力显微镜(工业型)
ParcanNano百及纳米工业型原子力显微镜,可集成大尺寸样品位移台、全自动光学导航系统和配套自动控制软件,可对大尺寸样品 进行全方位的光学成像定位,根据光学成像结果自动标定多个精确测量区域,并根据缺陷/待测结构的特点进行模式识别,智能选取原子力显微镜测量
价 格:¥电议型 号:产 地:欧洲
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P-SPL21百及纳米ParcanNano单探针电子束光刻机
ParcanNano单探针电子束光刻系统P-SPL,扫描针尖低能电子场发射的原理、采用压阻式微纳米针尖和多维纳米定位与测量技术、在半导体器件材料表面制造尺寸小于5纳米线宽结构的高性能微纳加工系统。可在大气环境下,高经济效益、快速直写5纳米以下结构和制备纳米器件。该系统的闭环回路可实现使用同扫描探针对纳米结构的成像、定位、检测和操纵。$r$n
价 格:¥电议型 号:P-SPL21产 地:欧洲
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AFM百及纳米ParcanNano原子力显微镜(快捷型)
百及纳米ParcanNano 高速原子力显微镜AFM(快捷型),是公司开发的一款颠覆性的新型AFM系统。它使用主动式智能针尖,集传感器、驱动器和可功能化的针尖于一身,实现自激发和自传感,无需复杂的激光校准,是取代现有AFM激光传感的巨大改进。该系统可在大气、液态及真空环境下实现对微纳米结构的高速、高效表征,成像精度达到0.2纳米的限精度。
价 格:¥电议型 号:AFM产 地:欧洲
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OAI 6000 FSA全自动上侧或后侧光刻机
OAI 6000 FSA 全自动上侧或后侧光刻机,具有完全自动化的亚微米分辨率的顶侧或背侧对齐,提供无与伦比的性价比。
价 格:¥电议型 号:OAI 6000 FSA产 地:美洲
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208HR美国TED 高分辨离子溅射仪
208HR高分辨离子溅射仪-适用于场发射扫描电镜,可选择多种镀膜材料,精确的膜厚控制,样品台控制灵活,多个样品座,样品室几何可变,宽范围的操作压力,紧凑、现代的桌上型设计,操作容易。
价 格:¥电议型 号:208HR产 地:美洲
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脉冲激光沉积系统,激光分子束外延系统荷兰TSST脉冲激光沉积/激光分子束外延系统
脉冲激光沉积/激光分子束外延系统,在真空环境下利用脉冲激光对靶材表面进行轰击,利用激光产生的局域热量将靶材物质轰击出来,再沉积在不同的衬底上,从而形成薄膜。
价 格:¥电议型 号:脉冲激光沉积系统,激光分子束外延系统产 地:欧洲
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Sentech 集成等离子刻蚀和沉积的多腔系统
$r$nSentech 集成等离子刻蚀和沉积的多腔系统$r$nSentech 集成等离子刻蚀和沉积的多腔系统,SENTECH多腔系统包括等离子刻蚀和/或沉积腔体、传送腔室、预真空室或片盒站。传送腔室包括传送机械手臂,可适用于三至六个端口。可以使用多达两个片盒站来增加产量。传送腔室可以配备多种选择。$r$n
价 格:¥电议型 号:产 地:欧洲
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RTMALD实时监测仪
$r$nSENTECH ALD实时监测仪是一种新型的光学诊断工具,是心灵超高分辨率的单一ALD循环。在不破坏真空的条件下分析薄膜特性(生长速率,厚度,折射率),在短时间内开发新工艺、实时研究ALD循环中的反应机理是SENTECH ALD实时监测仪的主要应用。$r$n $r$n
价 格:¥电议型 号:RTM产 地:欧洲
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SE 800 PV激光椭偏仪
$r$nSE 800 PV 激光椭偏仪$r$n $r$nSENTECH设计了SE 800 PV,用于表征由SiNx/SiO2、SiNx/SiNy或SiNx/Al2O3组成的多层钝化膜和防反射涂层。分析了单晶和多晶硅太阳电池的折射率指数、吸收和膜厚。在配方模式下进行复杂的测量,速度快,操作容易。
价 格:¥电议型 号:SE 800 PV产 地:欧洲
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SE 400adv PV激光椭偏仪
$r$n激光椭偏仪SE 400adv PV$r$n $r$nSE 400adv PV是全球化使用的标准仪器,用于测量PV单层防反射涂层的厚度和折射率指数。特别用于表征单晶和多晶硅太阳能电池上的SiNx 防反射单层膜的性能。该仪器用于SiNx涂层和薄钝化层SiO2和Al2O3的质量控制。$r$n
价 格:¥电议型 号:SE 400adv PV产 地:欧洲
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RT Inline薄膜反射和透射的在线监测系统
$r$n薄膜反射和透射的在线监测系统 RT Inline$r$n $r$n反射率、透射率和膜厚的高速在线测量是RT Inline的设计特点。传感器头阵列扫描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射,作为内部参考测量。利用FTPadv Expert软件可以方便地进行层沉积过程的在线监测。软件接口可用于与主机的数据通信。$r$n
价 格:¥电议型 号:RT Inline产 地:欧洲
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MDPspot德国Sentech光伏测量仪器
$r$n德国Sentech光伏测量仪器MDPspot,具有成本效益的台式少子寿命测试仪MDPspot可用于表征晶片或面。它为少子寿命测量提供了一个测量点。$r$n $r$n低成本桌面式寿命测量系统,用于手动操作表征不同制备阶段的各种不同硅样品。可选的手动操作Z轴用于厚度多达156毫米的样品。标准软件可输出可视化的测量结果。$r$n $r$n
价 格:¥电议型 号:MDPspot产 地:欧洲
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SENperc PV德国Sentech光伏测量仪
SENperc PV 是PERC电池制造质量控制的创新解决方案。SENperc PV 测量Al2O3/SiNx堆叠层和用于钝化PERC电池的单层膜。监测沉积过程的稳定性。由此,可以优化维护时间间隔。$r$n
价 格:¥电议型 号:SENperc PV产 地:欧洲
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SenSol自动扫描薄膜测量仪器
$r$nSenSol是SENTECH光伏产品组合中的自动大面积扫描仪器。自动表征膜厚、薄层电阻、雾度、反射和透射的均匀性。使用SenSol,可以监测大型玻璃基板上的沉积过程的均匀性,从而可以显著减少仪器维护后重新开始生产的时间。$r$n
价 格:¥电议型 号:SenSol产 地:欧洲
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MDPpro德国Sentech激动扫描系统
$r$n德国Sentech激动扫描系统MDPpro,少子寿命测量仪器的特征在于以1mm分辨率对500mm的一个面在不到4分钟内完成扫描。电阻率和少子寿命的测量完全无触摸。利用微波检测光电导率(MDP)同时测量少子寿命、光电导率、电阻率和p/n导电类型的变化。$r$n
价 格:¥电议型 号:MDPpro产 地:欧洲
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MDPinlinescan在线寿命和电阻率逐行扫描仪
$r$nMDPinline ingot 光伏测量仪器,多晶形貌少子寿命测量系统是为高产量生产用户而设计的。对于一个面,以1毫米的分辨率,无接触、无破坏地测量电阻率和少子寿命花费不到一分钟。电阻率和导电类型变化的自动扫描可用于质量控制和监测炉子性能。面可以自动转动,以便测量所有的四个侧面。
价 格:¥电议型 号:MDPinlinescan产 地:欧洲
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MDPinline ingot光伏测量仪器
$r$nMDPinline ingot 光伏测量仪器,多晶形貌少子寿命测量系统是为高产量生产用户而设计的。对于一个面,以1毫米的分辨率,无接触、无破坏地测量电阻率和少子寿命花费不到一分钟。电阻率和导电类型变化的自动扫描可用于质量控制和监测炉子性能。面可以自动转动,以便测量所有的四个侧面。
价 格:¥电议型 号:MDPinline ingot产 地:欧洲
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MDPinline光伏测量仪器
MDPinline 光伏测量仪器,一秒内完成正片晶片扫描。MDPinline是为高速自动扫描硅晶片而设计的,它以每片不到一秒的时间记录少子寿命的全部形貌。利用微波检测光电导率定量测量少子寿命。凭借其紧凑的设计,MDPinline可以灵活地集成在传送带上或晶片分选系统中。
价 格:¥电议型 号:MDPinline产 地:欧洲
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FTPadv Expert综合薄膜测量软件
FTPadv Expert 综合薄膜测量软件,光谱反射测量软件FTPadv Expert是专门为测量和分析R(λ)和T(λ)而设计的。用于确定各种材料的薄膜厚度、消光系数或折射率的光谱数据分析,这些参数都被加载到SENTECH光谱反射测量软件中,使得能够根据Cauchy色散、Drude振荡给出的参数描述和拟合材料。
价 格:¥电议型 号:FTPadv Expert产 地:欧洲
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FTPadv台式薄膜探针反射仪
FTPadv 台式薄膜探针反射仪$r$n台式薄膜探针反射仪FTPadv,FTPadv是一种具有成本效益的台式反射膜厚仪解决方案,它具有非常快速的厚度测量。在100毫秒以内进行测量,其精度低于0.3nm,膜厚范围在50 nm -25 μm。为了便于分光反射测量操作,该仪器包括了范围广泛的预定配方。
价 格:¥电议型 号:FTPadv产 地:欧洲